| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| ·论文选题的背景和意义 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-15页 |
| ·内建自测试技术 | 第11-13页 |
| ·外建自测试技术 | 第13-14页 |
| ·测试集紧缩技术 | 第14-15页 |
| ·课题研究的主要内容 | 第15-16页 |
| 第2章 SOC 测试的相关理论 | 第16-29页 |
| ·SoC 测试过程及测试方法 | 第16-18页 |
| ·故障模型和故障模拟 | 第18-21页 |
| ·常见的故障类型 | 第18-19页 |
| ·故障模拟 | 第19-21页 |
| ·测试向量生成 | 第21-23页 |
| ·测试向量生成过程 | 第21-23页 |
| ·测试向量生成方法分类 | 第23页 |
| ·测试数据压缩 | 第23-28页 |
| ·测试数据压缩的原理及分类 | 第23-24页 |
| ·测试数据压缩的编码形式 | 第24-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 LFSR 重播种方法 | 第29-41页 |
| ·线性反馈移位寄存器(LFSR)概述 | 第29-34页 |
| ·LFSR 的基本构成 | 第29-31页 |
| ·LFSR 的数学基础 | 第31-33页 |
| ·LFSR 的工作原理 | 第33-34页 |
| ·重播种技术原理 | 第34-35页 |
| ·LFSR 重播种方法及改进 | 第35-39页 |
| ·多个多项式LFSR 重播种方法 | 第35-37页 |
| ·变长种子LFSR 重播种方法 | 第37-38页 |
| ·部分动态LFSR 重播种 | 第38-39页 |
| ·部分测试向量切分方案的提出 | 第39-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 基于部分测试向量切分的LFSR 重播种方法 | 第41-49页 |
| ·部分向量切分的基本思想 | 第41-42页 |
| ·测试向量切分的相关技术 | 第42-45页 |
| ·切分策略的分析 | 第42-43页 |
| ·Gauss-Jordan 消元法解方程组 | 第43-45页 |
| ·硬件解压结构 | 第45-47页 |
| ·整体综合过程 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第5章 基于LFSR 重播种测试数据压缩的仿真测试 | 第49-59页 |
| ·基于LFSR 重播种测试数据压缩的总体框架设计与分析 | 第49-51页 |
| ·基于LFSR 重播种测试压缩的各个模块的设计与分析 | 第51-57页 |
| ·控制电路 | 第51-52页 |
| ·测试矢量生成电路 | 第52-54页 |
| ·特征分析电路 | 第54-55页 |
| ·比较电路 | 第55页 |
| ·八位行波进位加法器BIST 综合逻辑仿真 | 第55-56页 |
| ·故障模拟 | 第56页 |
| ·测试数据分析 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 结论 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
