虚拟仪器技术在新型军用电路板自动测试系统中的应用研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 1 绪论 | 第11-23页 |
| ·研究背景及意义 | 第11-12页 |
| ·测试的基本概念 | 第12-13页 |
| ·联机测试系统 | 第12页 |
| ·脱机测试系统 | 第12-13页 |
| ·数字系统的故障及测试技术 | 第13-15页 |
| ·数字系统的故障 | 第13-14页 |
| ·数字系统的测试 | 第14-15页 |
| ·模拟系统的故障及测试技术 | 第15-16页 |
| ·模拟电路的故障 | 第15页 |
| ·模拟电路的测试 | 第15页 |
| ·模拟电路的诊断 | 第15-16页 |
| ·自动测试系统的发展状况 | 第16-19页 |
| ·第一代自动测试系统 | 第16-17页 |
| ·第二代自动测试系统 | 第17页 |
| ·第三代自动测试系统 | 第17-19页 |
| ·虚拟仪器的基本概念和基本特点 | 第19-20页 |
| ·虚拟仪器的基本概念 | 第19页 |
| ·虚拟仪器的基本特点 | 第19-20页 |
| ·小结 | 第20-23页 |
| 2 虚拟仪器技术 | 第23-33页 |
| ·数据采集系统 | 第23页 |
| ·GPIB总线系统 | 第23-26页 |
| ·GPIB总线系统的基本特征 | 第23-24页 |
| ·GPIB总线系统的结构分析 | 第24-26页 |
| ·VXI总线系统 | 第26-30页 |
| ·VXI总线产生的背景 | 第26-27页 |
| ·VXI总线系统的特点 | 第27-28页 |
| ·VXI总线系统的设计 | 第28-30页 |
| ·虚拟仪器的结构 | 第30-32页 |
| ·虚拟仪器的组成及关键技术 | 第30-31页 |
| ·虚拟仪器的软件结构 | 第31-32页 |
| ·小结 | 第32-33页 |
| 3 新型军用电路板自动测试系统设计 | 第33-53页 |
| ·简述 | 第33页 |
| ·电路板自动测试诊断系统的要求 | 第33-34页 |
| ·自动测试系统应具备很强的激励能力 | 第33页 |
| ·通道切换能力强 | 第33页 |
| ·加强通用性设计 | 第33页 |
| ·加强安全性设计 | 第33-34页 |
| ·加强可靠性设计 | 第34页 |
| ·加强维修性设计 | 第34页 |
| ·加强电磁兼容设计 | 第34页 |
| ·BDS9210电路板自动测试诊断系统的硬件设计 | 第34-45页 |
| ·硬件系统方案选择 | 第34页 |
| ·硬件组成 | 第34-40页 |
| ·数据采集卡(DAQ)的硬件设计 | 第40-45页 |
| ·BDS9210电路板自动测试诊断系统的软件设计 | 第45-50页 |
| ·软件开发平台的选择 | 第45-46页 |
| ·软件系统构成 | 第46-47页 |
| ·软件系统设计构成 | 第47页 |
| ·软件系统功能 | 第47-48页 |
| ·系统测试管理程序的实现 | 第48-50页 |
| ·小结 | 第50-53页 |
| 4 C61TB电路板测试程序集的设计 | 第53-65页 |
| ·C61TB电路板原理分析 | 第53-54页 |
| ·C61TB电路板简介 | 第53页 |
| ·电路板原理说明 | 第53-54页 |
| ·C61TB电路板测试分析 | 第54-59页 |
| ·PLD器件的测试分析 | 第54-55页 |
| ·SDC模块的测试分析 | 第55-57页 |
| ·总线输出模块的测试分析 | 第57-59页 |
| ·测试适配板的设计 | 第59页 |
| ·C61TB电路板测试程序集的开发与实板仿真 | 第59-63页 |
| ·测试程序集的开发 | 第59-63页 |
| ·小结 | 第63-65页 |
| 5 测试程序集的评价与初步结论 | 第65-69页 |
| ·C61TB电路板测试程序集的评价 | 第65-67页 |
| ·评价的基本技术性能指标 | 第65页 |
| ·测试程序故障探测与隔离测试要求 | 第65页 |
| ·测试程序的评价 | 第65-67页 |
| ·初步结论 | 第67-69页 |
| ·主要创新点 | 第67-68页 |
| ·尚需进一步进行的工作 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71-73页 |
| 个人简历 | 第73页 |
| 发表的学术论文 | 第73页 |
