动态扩展相容性扫描树
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 插图索引 | 第10-12页 |
| 附表索引 | 第12-13页 |
| 第1章 绪论 | 第13-24页 |
| ·IC测试技术发展概况 | 第13-14页 |
| ·数字电路测试的概念及方法 | 第14-18页 |
| ·故障模型 | 第15页 |
| ·故障模拟 | 第15-17页 |
| ·测试生成及其算法 | 第17-18页 |
| ·可测试性设计的研究概况 | 第18-21页 |
| ·扫描测试 | 第18-19页 |
| ·BIST | 第19-20页 |
| ·边界扫描测试 | 第20-21页 |
| ·本研究的目的和意义 | 第21-22页 |
| ·本文主要工作与组织结构 | 第22-24页 |
| 第2章 全扫描测试 | 第24-40页 |
| ·全扫描测试概况 | 第24-25页 |
| ·压缩扫描测试结构 | 第25-34页 |
| ·线性解压缩方法 | 第26页 |
| ·确定性BIST方法 | 第26-27页 |
| ·广播器方法 | 第27-28页 |
| ·时间域压缩器 | 第28-29页 |
| ·空间域压缩器 | 第29-32页 |
| ·空间域和时间域混合压缩器 | 第32-34页 |
| ·相容扫描测试结构 | 第34-40页 |
| ·扫描树技术 | 第34-35页 |
| ·扩展相容性扫描树结构 | 第35-36页 |
| ·基于扩展相容性扫描树结构的压缩器 | 第36-38页 |
| ·DCScan结构 | 第38-39页 |
| ·小结 | 第39-40页 |
| 第3章 动态扩展相容性扫描树 | 第40-52页 |
| ·扫描树结构中的冗余扩散 | 第40页 |
| ·消除冗余扩散的方法 | 第40-43页 |
| ·子路径生成算法 | 第41-42页 |
| ·子路径阻塞策略及实现 | 第42-43页 |
| ·减少扫描输出的方法 | 第43-44页 |
| ·子路径串联满足条件 | 第43-44页 |
| ·子路径串联策略及实现 | 第44页 |
| ·降低扫描输出功耗的方法 | 第44-47页 |
| ·次子路径并联策略及实现 | 第44-46页 |
| ·子路径与次子路径混合串联满足条件 | 第46页 |
| ·串联排列优化 | 第46-47页 |
| ·减少时序控制单元硬件开销的方法 | 第47-48页 |
| ·动态扫描树的构造 | 第48-49页 |
| ·实验结果 | 第49-51页 |
| ·小结 | 第51-52页 |
| 第4章 分时激活扫描输出 | 第52-60页 |
| ·分时激活扫描输出原理 | 第52页 |
| ·基于动态扩展相容性扫描树的应用 | 第52-55页 |
| ·多子扫描链输出原理 | 第52-53页 |
| ·子扫描链分时激活扫描输出 | 第53-54页 |
| ·实验结果 | 第54-55页 |
| ·基于DCScan结构的应用 | 第55-59页 |
| ·DCScan结构的峰值功耗与扫描输出 | 第55-56页 |
| ·扫描分段分时激活扫描输出 | 第56-59页 |
| ·实验结果 | 第59页 |
| ·小结 | 第59-60页 |
| 结论 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-67页 |
| 附录A 攻读硕士学位期间发表的论文和参加的项目 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68页 |
