基于FPGA的边界扫描控制器的设计
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| ·研究背景 | 第11-12页 |
| ·国内外研究现状与发展 | 第12-14页 |
| ·课题的研究内容与章节组织 | 第14-16页 |
| 第二章 边界扫描测试技术基础 | 第16-28页 |
| ·边界扫描测试基本原理 | 第16-17页 |
| ·边界扫描测试结构 | 第17-18页 |
| ·测试存取通道(TAP) | 第18-19页 |
| ·测试时钟输入线(TCK) | 第18页 |
| ·测试方式选择输入(TMS) | 第18页 |
| ·测试数据输入线(TDI) | 第18页 |
| ·测试数据输出线(TDO) | 第18-19页 |
| ·测试复位输入线(TRST*) | 第19页 |
| ·TAP控制器 | 第19-22页 |
| ·测试数据寄存器 | 第22-25页 |
| ·旁路寄存器 | 第22-23页 |
| ·边界扫描寄存器 | 第23-24页 |
| ·器件标识寄存器 | 第24页 |
| ·专用测试寄存器 | 第24-25页 |
| ·指令寄存器 | 第25-26页 |
| ·边界扫描指令 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 边界扫描控制器的RTL级设计与实现 | 第28-51页 |
| ·开发平台FPGA | 第28-31页 |
| ·FPGA的设计流程 | 第28-30页 |
| ·开发语言VHDL | 第30-31页 |
| ·开发环境 | 第31页 |
| ·边界扫描控制器设计方案 | 第31-33页 |
| ·工作原理 | 第31-32页 |
| ·功能需求 | 第32页 |
| ·边界扫描控制器硬件结构 | 第32-33页 |
| ·处理器接口模块设计 | 第33-35页 |
| ·读写时序的设计 | 第33-34页 |
| ·寄存器设置 | 第34-35页 |
| ·命令模块设计 | 第35-40页 |
| ·TMS生成模块设计 | 第40-43页 |
| ·TDO缓存模块设计 | 第43-47页 |
| ·TDI缓存模块设计 | 第47-48页 |
| ·计数器模块设计 | 第48-49页 |
| ·时序逻辑模块设计 | 第49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 第四章 边界扫描控制器的测试验证 | 第51-70页 |
| ·测试验证方法 | 第51页 |
| ·测试系统构建 | 第51-60页 |
| ·SOPC硬件系统的设计 | 第52-56页 |
| ·Avalon总线信号的定义 | 第56-58页 |
| ·SOPC系统的软件设计 | 第58-60页 |
| ·基于Testbench的硬件仿真 | 第60-64页 |
| ·系统软硬件协同仿真 | 第64页 |
| ·系统的测试 | 第64-69页 |
| ·基于SignalTapⅡ的硬件调试 | 第65-68页 |
| ·系统运行结果及分析 | 第68-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 第五章 总结与展望 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-74页 |
| 在学期间发表的论文 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75页 |
