面向给定测试集的自反馈测试方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 插图索引 | 第10-11页 |
| 附表索引 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-17页 |
| ·研究背景 | 第12-16页 |
| ·集成电路发展趋势及其对测试的影响 | 第12-13页 |
| ·集成电路测试技术发展概况 | 第13-16页 |
| ·本文主要贡献 | 第16页 |
| ·文章的组织结构 | 第16-17页 |
| 第2章 数字集成电路测试技术 | 第17-33页 |
| ·数字集成电路测试基本理论 | 第17-24页 |
| ·故障和故障模型 | 第17-21页 |
| ·测试生成 | 第21-22页 |
| ·故障模拟 | 第22-23页 |
| ·响应分析 | 第23-24页 |
| ·内建自测试 | 第24-31页 |
| ·内建自测试的结构 | 第24-26页 |
| ·内建自测试测试向量生成方法 | 第26-31页 |
| ·测试方法性能评价指标 | 第31-32页 |
| ·小结 | 第32-33页 |
| 第3章 TVAC自测试方法 | 第33-40页 |
| ·TVAC自测试方法原理 | 第33-36页 |
| ·MinTest测试集 | 第36-37页 |
| ·HOPE故障模拟器 | 第37-39页 |
| ·小结 | 第39-40页 |
| 第4章 减少TVAC自测试硬件开销的方法 | 第40-52页 |
| ·附加信息矩阵的深度优先搜索分组方法 | 第40-47页 |
| ·图的合并 | 第41-42页 |
| ·附加信息矩阵的深度优先搜索方法 | 第42-45页 |
| ·实验结果 | 第45-47页 |
| ·反馈节点选取的优化方法 | 第47-50页 |
| ·反馈节点选取的优化方法 | 第47-49页 |
| ·实验结果 | 第49-50页 |
| ·小结 | 第50-52页 |
| 第5章 TVAC方法在同步时序电路测试中的应用 | 第52-58页 |
| ·TVAC方法在同步时序电路测试中的应用 | 第52-55页 |
| ·实验结果 | 第55-57页 |
| ·小结 | 第57-58页 |
| 结论 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 附录A 攻读硕士期间发表的论文和参加的项目 | 第66页 |
