| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-16页 |
| 第1章 绪论 | 第16-36页 |
| ·课题的背景及其研究意义 | 第16-18页 |
| ·集成电路的可测性设计方法的概述 | 第18-23页 |
| ·特定的设计方法 | 第18-19页 |
| ·扫描设计 | 第19-20页 |
| ·边界扫描设计 | 第20-22页 |
| ·BIST 设计 | 第22-23页 |
| ·BIST 研究现状 | 第23-33页 |
| ·BIST 的向量产生器 | 第24-31页 |
| ·BIST 的响应压缩器 | 第31-33页 |
| ·BIST 的发展趋势 | 第33-34页 |
| ·论文主要研究内容 | 第34-35页 |
| ·论文的结构 | 第35-36页 |
| 第2章 基于TRC 垂直压缩的确定性BIST 研究 | 第36-85页 |
| ·引言 | 第36页 |
| ·确定性BIST 研究现状 | 第36-40页 |
| ·确定性BIST 结构研究现状 | 第37-39页 |
| ·确定性BIST 的种子选择算法研究现状 | 第39-40页 |
| ·TRC 的特性研究 | 第40-55页 |
| ·基于TRC 垂直压缩的确定性BIST 的种子选择算法 | 第55-63页 |
| ·自适应TRC 种子选择算法 | 第55-59页 |
| ·自适应TRC 种子选择算法的实验结果及分析 | 第59-63页 |
| ·基于TRC 垂直压缩的确定性BIST 的冗余序列删除算法 | 第63-74页 |
| ·测试时间分析 | 第63-64页 |
| ·测试功耗分析 | 第64-66页 |
| ·删除冗余算法 | 第66-70页 |
| ·删除冗余的测试结构 | 第70-72页 |
| ·删除冗余序列的实验结果及分析 | 第72-74页 |
| ·响应压缩器的设计 | 第74-84页 |
| ·改进的基本树空间响应压缩器的设计 | 第75-79页 |
| ·多输入特征寄存器的设计 | 第79-81页 |
| ·实验结果及分析 | 第81-84页 |
| ·本章小结 | 第84-85页 |
| 第3章 基于二维压缩的确定性BIST 研究 | 第85-112页 |
| ·引言 | 第85页 |
| ·二维测试数据压缩的基本原理 | 第85-86页 |
| ·基于输入精简和TRC 的二维测试数据压缩 | 第86-95页 |
| ·基于输入精简的水平压缩 | 第87-89页 |
| ·基于TRC 垂直压缩 | 第89-90页 |
| ·基于二维压缩的测试结构 | 第90-91页 |
| ·实验结果及分析 | 第91-95页 |
| ·基于LFSR 和TRC 的二维测试数据压缩 | 第95-109页 |
| ·LFSR 的基本结构 | 第96页 |
| ·LFSR 的特征多项式 | 第96-97页 |
| ·基于LFSR 的确定性BIST 的基本结构 | 第97-98页 |
| ·基于LFSR 的确定性BIST 的种子编码算法 | 第98-103页 |
| ·计算结合LFSR 和TRC 的确定性BIST 中LFSR 的长度 | 第103-105页 |
| ·二维压缩的种子选择算法 | 第105-107页 |
| ·二维压缩的测试结构 | 第107页 |
| ·实验结果及分析 | 第107-109页 |
| ·两种二维测试数据压缩BIST 方案的比较 | 第109-110页 |
| ·本章小结 | 第110-112页 |
| 第4章 低功耗确定性BIST 的研究 | 第112-145页 |
| ·引言 | 第112-113页 |
| ·基于test-per-clock 的低功耗确定性BIST 的研究 | 第113-131页 |
| ·研究背景 | 第113-114页 |
| ·基于部分重播种和扫描片段凝固的确定性BIST 方案 | 第114-123页 |
| ·基于变长TRC 的确定性BIST 方案 | 第123-130页 |
| ·两种低功耗BIST 的比较 | 第130-131页 |
| ·基于test-per-scan 的低功耗确定性BIST 的研究 | 第131-143页 |
| ·基于扫描切片划分的确定性BIST 的原理 | 第131-132页 |
| ·基于扫描切片划分的确定性BIST 优化方案 | 第132-139页 |
| ·实验结果及分析 | 第139-143页 |
| ·本章小结 | 第143-145页 |
| 结论 | 第145-147页 |
| 参考文献 | 第147-159页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第159-162页 |
| 致谢 | 第162-163页 |
| 个人简历 | 第163页 |
