集成电路动态特性的时域参数测试
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| ·集成电路产业发展 | 第9-10页 |
| ·集成电路测试发展 | 第10-11页 |
| ·集成电路自动测试系统功能简介 | 第11页 |
| ·集成电路时间参数测试 | 第11-12页 |
| ·本课题研究 | 第12-13页 |
| ·本文结构 | 第13-14页 |
| 第二章 设计分析 | 第14-26页 |
| ·集成电路测试系统设计 | 第14-17页 |
| ·时间测量部分设计 | 第17-25页 |
| ·测量时间的基本概念 | 第17-19页 |
| ·上升/下降时间 | 第17-18页 |
| ·周期/频率 | 第18页 |
| ·传输延迟 | 第18-19页 |
| ·时间间隔测量 | 第19-21页 |
| ·电子计数法 | 第19页 |
| ·模拟内插法 | 第19-20页 |
| ·延迟线法 | 第20-21页 |
| ·频率测量部分设计 | 第21-24页 |
| ·电子计数法测量频率 | 第22页 |
| ·频率电压转换法测量信号频率 | 第22-23页 |
| ·拍频法测量信号频率 | 第23-24页 |
| ·集成电路时间参数测量 | 第24-25页 |
| ·小结 | 第25-26页 |
| 第三章 时间测量的硬件设计 | 第26-43页 |
| ·信号激励设计 | 第26-28页 |
| ·通道设计 | 第28-29页 |
| ·高阻抗通道设计 | 第28-29页 |
| ·测试通道设计 | 第29页 |
| ·比较电平设置 | 第29-32页 |
| ·控制逻辑设计 | 第32-34页 |
| ·时间测量部分设计 | 第34-36页 |
| ·频率测量 | 第36-38页 |
| ·信号高速采集部分 | 第38-40页 |
| ·通信控制 | 第40-42页 |
| ·小结 | 第42-43页 |
| 第四章 软件设计 | 第43-56页 |
| ·底层软件设计 | 第43-49页 |
| ·频率测量 | 第43-44页 |
| ·时间间隔测量 | 第44-48页 |
| ·信号采集 | 第48-49页 |
| ·软件校准 | 第49-52页 |
| ·DA 的校准 | 第50-51页 |
| ·AD 校准 | 第51-52页 |
| ·软件界面设计 | 第52-55页 |
| ·小结 | 第55-56页 |
| 第五章 结果分析 | 第56-67页 |
| ·AD 采样结果分析 | 第56-58页 |
| ·频率测量结果分析 | 第58-59页 |
| ·信号周期测量 | 第59-60页 |
| ·上升/下降时间测量 | 第60-62页 |
| ·延迟时间测量 | 第62-63页 |
| ·结果误差分析 | 第63-66页 |
| ·原理误差 | 第63页 |
| ·信号传输误差 | 第63-64页 |
| ·信号抖动误差 | 第64-66页 |
| ·小结 | 第66-67页 |
| 第六章 总结与展望 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 文献资料 | 第69-71页 |
| 攻硕期间取得研究成果 | 第71-72页 |
