受控线性移位测试生成方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 插图索引 | 第9-10页 |
| 附表索引 | 第10-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-18页 |
| ·IC发展概况 | 第11-12页 |
| ·测试面临的挑战 | 第12-13页 |
| ·可测试性设计 | 第13-16页 |
| ·研究意义及主要贡献 | 第16-17页 |
| ·论文的组织结构 | 第17-18页 |
| 第2章 数字电路测试技术介绍 | 第18-35页 |
| ·测试的基本概念 | 第18-25页 |
| ·测试分类 | 第18-19页 |
| ·故障及故障模型 | 第19-22页 |
| ·故障检测 | 第22-23页 |
| ·故障等价 | 第23-24页 |
| ·故障压缩 | 第24-25页 |
| ·扫描测试技术 | 第25-27页 |
| ·扫描单元结构 | 第26页 |
| ·扫描设计 | 第26-27页 |
| ·BIST技术 | 第27-30页 |
| ·BIST的基本结构 | 第28页 |
| ·测试生成器 | 第28-29页 |
| ·响应分析器 | 第29-30页 |
| ·测试矢量压缩技术 | 第30-33页 |
| ·哈夫曼编码 | 第31页 |
| ·Golomb码 | 第31-32页 |
| ·FDR码 | 第32-33页 |
| ·小结 | 第33-35页 |
| 第3章 受控线性移位测试生成方法 | 第35-47页 |
| ·测试矢量生成算法简介 | 第35-38页 |
| ·受控移位内建自测试结构 | 第38-39页 |
| ·受控线性移位测试生成原理 | 第39页 |
| ·受控线性移位测试生成算法 | 第39-41页 |
| ·相关定理与定义 | 第39-41页 |
| ·受控线性移位测试生成算法 | 第41页 |
| ·算法的具体实现 | 第41-42页 |
| ·实验结果 | 第42-45页 |
| ·小结 | 第45-47页 |
| 第4章 基于受控线性移位方法的低功耗优化 | 第47-56页 |
| ·测试功耗的基本概念 | 第47-48页 |
| ·测试功耗的产生 | 第47-48页 |
| ·测试功耗的组成 | 第48页 |
| ·测试功耗优化技术 | 第48-50页 |
| ·受控线性移位方法测试功耗问题 | 第50-51页 |
| ·向量挑选算法和硬件的实现 | 第51-53页 |
| ·向量挑选算法 | 第51页 |
| ·硬件结构 | 第51-53页 |
| ·实验结果 | 第53-55页 |
| ·小结 | 第55-56页 |
| 结论 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 附录 A 攻读硕士期间发表的论文和参加的项目 | 第64页 |
