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集成电路测试仪控制电路与分选系统接口技术研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-9页
第一章 绪论第9-15页
   ·测试系统分析第9页
   ·集成电路测试技术的发展第9-12页
   ·集成电路测试仪控制电路与分选机接口技术研究第12-14页
   ·本章小结第14-15页
第二章 集成电路测试仪与分选系统的接口(PHI)设计第15-46页
   ·集成电路测试仪的研究第15-16页
   ·分选系统的研究第16-19页
     ·测试分选机的安装和操作第17页
     ·测试分选机的工作过程第17-18页
     ·测试分选机的相关设置和操作第18-19页
   ·集成电路测试仪与分选机接口设计原理第19-28页
     ·PHI 电路的工作流程第21-22页
     ·集成电路测试仪接口电路中对设定 TTL 参数的设计第22-28页
   ·PHI 接口的硬件电路设计第28-45页
     ·硬件电路设计接口外围分析第29-31页
     ·对分选系统控制的硬件电路设计第31-34页
     ·PHI 控制电路的逻辑设计第34-41页
     ·PHI 接口电路调试第41-45页
   ·本章小结第45-46页
第三章 集成电路测试仪控制电路与分选机接口电源部分设计与监控第46-58页
   ·系统所用电源介绍第46-47页
   ·集成电路测试仪监控所用电源的设计第47-49页
   ·电源监控电路第49-57页
     ·电源监控电路的要求第49页
     ·电源监控电路的设计第49-54页
     ·电源监控部分逻辑的编写第54-55页
     ·电源监控部分寄存器地址数据分配第55-56页
     ·对电源监控部分的调试第56-57页
   ·本章小结第57-58页
第四章 集成电路测试仪与分选系统继电器部分设计第58-65页
   ·继电器指标分析第58-59页
   ·继电器驱动电路分析第59-61页
   ·继电器矩阵的作用第61-62页
   ·对继电器矩阵控制的硬件电路设计第62页
   ·继电器矩阵控制逻辑设计第62-63页
   ·继电器矩阵控制地址数据分配及调试过程中出现的问题第63-64页
   ·本章小结第64-65页
第五章 总结第65-66页
致谢第66-67页
参考文献第67-69页
攻硕期间取得的研究成果第69-70页

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