| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| ·集成电路测试概述 | 第9-13页 |
| ·基本原理 | 第9-10页 |
| ·测试的分类 | 第10-11页 |
| ·面临的挑战 | 第11-12页 |
| ·可测性设计 | 第12-13页 |
| ·研究内容 | 第13页 |
| ·文章的组织结构 | 第13-14页 |
| 第2章 可测性设计 | 第14-31页 |
| ·可测性设计基本概念 | 第14-16页 |
| ·可控制性与可观察性 | 第14页 |
| ·测试生成 | 第14-15页 |
| ·故障覆盖率 | 第15-16页 |
| ·可测性设计方法 | 第16-19页 |
| ·扫描设计 | 第16-18页 |
| ·边界扫描设计 | 第18-19页 |
| ·内建自测试 | 第19-24页 |
| ·测试结构 | 第19-21页 |
| ·测试生成方法 | 第21-24页 |
| ·几种内建自测试方法 | 第24-28页 |
| ·基于伪随机测试的BIST方法 | 第24-25页 |
| ·ROM与PRPG相结合的BIST方法 | 第25-26页 |
| ·循环自测试路径 | 第26-27页 |
| ·其它BIST方法 | 第27-28页 |
| ·由被测电路自己施加测试向量的BIST方法 | 第28-30页 |
| ·小结 | 第30-31页 |
| 第3章 测试数据中的X位及其处理 | 第31-39页 |
| ·MinTest测试集 | 第31-32页 |
| ·无关位 | 第32-34页 |
| ·无关位的变换方法 | 第32-34页 |
| ·无关位在测试中的应用 | 第34页 |
| ·未知位及其标识 | 第34-37页 |
| ·基本思想 | 第35-36页 |
| ·未知位的标识 | 第36-37页 |
| ·小结 | 第37-39页 |
| 第4章 X位在被测电路自己施加测试向量方法中的应用 | 第39-47页 |
| ·基本思想 | 第39-40页 |
| ·X位的应用 | 第40-42页 |
| ·算法描述 | 第42-45页 |
| ·后续处理过程 | 第45-46页 |
| ·小结 | 第46-47页 |
| 第5章 实验结果与分析 | 第47-53页 |
| ·实验简介 | 第47-48页 |
| ·分组完全反馈 | 第48-49页 |
| ·一般反馈 | 第49-51页 |
| ·小结 | 第51-53页 |
| 结论 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 附录A 攻读硕士期间发表的论文 | 第60页 |