| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 引言 | 第5-7页 |
| 第一章 微处理器芯片平台测试研究的背景与构思 | 第7-15页 |
| 第一节 微处理器芯片平台测试的背景与现状 | 第7-9页 |
| 第二节 测试流程以及测试设备的相关介绍 | 第9-13页 |
| 第三节 微处理器芯片平台测试系统改进的构思 | 第13-15页 |
| 第二章 微处理器芯片平台测试系统优化设计以及实验验证 | 第15-26页 |
| 第一节 平台测试压块的优化探索 | 第15-20页 |
| 第二节 U-Pedestal模型创建与理论分析 | 第20-23页 |
| 第三节 U-Pedestal的实验验证 | 第23-26页 |
| 第三章 微处理器芯片平台测试系统改进的工程验证与推广 | 第26-35页 |
| 第一节 U-Pedestal在生产实践中的数据验证 | 第26-34页 |
| 第二节 平台测试系统优化的推广与展望 | 第34-35页 |
| 第四章 工作总结 | 第35-38页 |
| 第一节 研究工作总结 | 第35-36页 |
| 第二节 研究成果总结 | 第36-38页 |
| 参考文献 | 第38-39页 |
| 致谢 | 第39-40页 |