| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第1章 前言 | 第8-13页 |
| ·本课题的研究背景、现状和意义 | 第8-11页 |
| ·集成电路及MRAM 的发展背景 | 第8-9页 |
| ·集成电路测试方法的研究背景 | 第9-10页 |
| ·MRAM 测试的研究现状及意义 | 第10-11页 |
| ·本文的研究目标和论文内容安排 | 第11-13页 |
| 第2章 MRAM存储器测试的设计方案 | 第13-24页 |
| ·MRAM 的概述 | 第13-15页 |
| ·可测试性设计技术 | 第15-16页 |
| ·内建自测试方法 | 第16-19页 |
| ·MRAM 整体测试方案及其比较 | 第19-21页 |
| ·MRAM 测试系统设计流程 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-24页 |
| 第3章 MRAM测试算法的研究 | 第24-37页 |
| ·MRAM 的故障模型 | 第24-28页 |
| ·MRAM 的测试算法研究 | 第28-36页 |
| ·March 算法概述 | 第28-29页 |
| ·MRAM 测试算法的总体描述 | 第29-32页 |
| ·MRAM 算法的实现步骤及分析 | 第32-34页 |
| ·字定向的的MRAM 测试算法 | 第34-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第4章 MRAM 内建自测试（BIST）电路结构设计 | 第37-48页 |
| ·MRAM BIST 电路的总体结构 | 第37-38页 |
| ·控制模块的设计 | 第38-40页 |
| ·算法有限状态机模块的设计 | 第40-41页 |
| ·地址序列模块的设计 | 第41-45页 |
| ·测试向量生成部分 | 第45-46页 |
| ·多路选择部分 | 第46-47页 |
| ·响应比较部分 | 第47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第5章 MRAM BIST电路仿真结果及分析 | 第48-56页 |
| ·控制模块的仿真及结果分析 | 第48-49页 |
| ·算法FSM 模块部分 | 第49-50页 |
| ·地址生成模块的仿真结果及分析 | 第50-52页 |
| ·测试向量生成模块部分 | 第52-53页 |
| ·多路选择模块部分 | 第53-54页 |
| ·响应比较模块的仿真结果及分析 | 第54页 |
| ·总体模块的仿真结果及分析 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第6章 MRAM BIST电路的综合结果及分析 | 第56-68页 |
| ·算法状态机模块的综合结果及分析 | 第58-59页 |
| ·控制模块部分综合结果及分析 | 第59-60页 |
| ·地址生成模块的综合结果及分析 | 第60-63页 |
| ·测试向量生成模块的综合结果及分析 | 第63-64页 |
| ·多路选择模块的综合结果及分析 | 第64页 |
| ·响应比较模块的综合结果及分析 | 第64-65页 |
| ·总体模块的综合结果及分析 | 第65-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 总结与展望 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-74页 |
| 攻读硕士学位期间取得的学术成果 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75页 |