| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 插图索引 | 第10-12页 |
| 附表索引 | 第12-13页 |
| 第1章 绪论 | 第13-22页 |
| ·研究背景及任务 | 第13-14页 |
| ·集成电路测试面临的挑战 | 第14-16页 |
| ·可测性设计及可制造性设计 | 第14-15页 |
| ·系统芯片的测试 | 第15页 |
| ·数模混合电路测试 | 第15-16页 |
| ·嵌入式开发技术 | 第16-20页 |
| ·SOPC技术 | 第16-18页 |
| ·IP核概念介绍 | 第18-19页 |
| ·SOPC与传统嵌入式系统的比较 | 第19-20页 |
| ·论文主要工作及组织结构 | 第20-22页 |
| 第2章 数字集成电路测试技术介绍 | 第22-35页 |
| ·数字电路测试基础 | 第22-27页 |
| ·故障和故障模型 | 第22-26页 |
| ·测试生成 | 第26-27页 |
| ·可测性设计 | 第27-29页 |
| ·扫描测试 | 第27-28页 |
| ·边界扫描测试 | 第28-29页 |
| ·内建自测试 | 第29-34页 |
| ·BIST的测试生成 | 第30-31页 |
| ·BIST的测试响应压缩 | 第31-32页 |
| ·BIST的测试结构 | 第32-34页 |
| ·小结 | 第34-35页 |
| 第3章 基于穷举和回溯的测试序列搜索算法 | 第35-44页 |
| ·自反馈测试基本原理 | 第35-37页 |
| ·穷举 | 第37-39页 |
| ·问题描述 | 第37-38页 |
| ·状态矩阵 | 第38-39页 |
| ·回溯 | 第39-41页 |
| ·回溯算法 | 第39-40页 |
| ·回溯过程 | 第40-41页 |
| ·算法描述 | 第41-43页 |
| ·小结 | 第43-44页 |
| 第4章 基于SOPC的测试序列搜索算法的实现 | 第44-61页 |
| ·实验环境介绍 | 第44-46页 |
| ·XUP Xilinx Virtex-Ⅱ Pro开发系统 | 第44-45页 |
| ·Xilinx开发工具 | 第45-46页 |
| ·系统设计 | 第46-57页 |
| ·系统开发流程 | 第46-48页 |
| ·软硬件划分 | 第48-49页 |
| ·DMA控制器 | 第49-51页 |
| ·IP核定制 | 第51-54页 |
| ·软件设计 | 第54-55页 |
| ·软硬件通信模式 | 第55-57页 |
| ·功能验证和性能分析 | 第57-60页 |
| ·用户IP核仿真 | 第57-58页 |
| ·系统功能验证 | 第58-59页 |
| ·系统性能分析 | 第59-60页 |
| ·小结 | 第60-61页 |
| 结论 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第68-69页 |
| 附录B 攻读学位期间所参与的科研活动 | 第69页 |