基于扫描的低功耗测试方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 致谢 | 第7-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| ·研究背景 | 第11-13页 |
| ·低功耗测试研究现状 | 第13-15页 |
| ·本文研究重点及结构安排 | 第15-16页 |
| 第二章 VLSI 低功耗测试研究 | 第16-28页 |
| ·VLSI 测试功耗基础知识介绍 | 第16-22页 |
| ·相关概念介绍 | 第16页 |
| ·故障模型 | 第16-17页 |
| ·测试生成与故障模拟 | 第17-18页 |
| ·移位功耗 | 第18-21页 |
| ·捕获功耗 | 第21-22页 |
| ·扫描设计的提出 | 第22-25页 |
| ·测试压缩方法研究现状及其与低功耗技术的关系 | 第25-28页 |
| ·测试压缩技术 | 第25-26页 |
| ·测试压缩技术与低功耗技术的关系 | 第26-28页 |
| 第三章 基于响应无关位填充的测试数据压缩方案 | 第28-39页 |
| ·LFSR | 第28-32页 |
| ·LFSR 介绍 | 第28-31页 |
| ·LFSR 编码成功的关键 | 第31-32页 |
| ·基于响应分块相容编码的相关概念介绍 | 第32-33页 |
| ·相容的相关概念 | 第32页 |
| ·基于相容关系的编码方案[61] | 第32-33页 |
| ·基于响应无关位填充的测试压缩方案 | 第33-36页 |
| ·研究动机 | 第33-35页 |
| ·综合过程 | 第35页 |
| ·解压结构 | 第35-36页 |
| ·例证 | 第36-38页 |
| ·实验结果与总结 | 第38-39页 |
| 第四章 降低测试功耗的扫描链重构技术 | 第39-48页 |
| ·基于扫描设计的低功耗方法简介 | 第39-40页 |
| ·扫描单元排序与扫描链的划分 | 第40-42页 |
| ·功耗模型 | 第40页 |
| ·扫描单元的重排序 | 第40-42页 |
| ·针对扫描结构测试生成 | 第42-45页 |
| ·实验结果 | 第45-47页 |
| ·总结 | 第47-48页 |
| 第五章 结束语 | 第48-50页 |
| ·总结 | 第48页 |
| ·今后工作的展望 | 第48-50页 |
| 参考文献 | 第50-57页 |
| 附录 | 第57-58页 |
