| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-19页 |
| ·SOC的发展趋势 | 第9-10页 |
| ·自动测试机台面临的瓶颈和挑战 | 第10-14页 |
| ·芯片功能复杂化给自动测试设备提出的要求 | 第10-11页 |
| ·降低测试成本提高测试速度势在必行 | 第11-12页 |
| ·常见降低测试成本的方法 | 第12-14页 |
| ·减少测试时间 | 第13-14页 |
| ·减少单位测试成本 | 第14页 |
| ·论文选题的动机 | 第14-17页 |
| ·课题研究的意义及论文结构 | 第17-18页 |
| ·课题研究的意义 | 第17页 |
| ·论文组织 | 第17-18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 第二章 射频芯片测试开发方案的选择 | 第19-41页 |
| ·射频测试技术简介 | 第19-29页 |
| ·射频测试基础知识 | 第19-25页 |
| ·射频信号的定义 | 第19-20页 |
| ·射频信号常用单位和原理 | 第20-21页 |
| ·采样定理 | 第21-22页 |
| ·射频芯片常规参数 | 第22-25页 |
| ·射频测试接口板设计 | 第25-29页 |
| ·射频信号的特点 | 第25-26页 |
| ·传输线理论 | 第26-27页 |
| ·射频电路PCB设计 | 第27-29页 |
| ·项目介绍 | 第29-33页 |
| ·被测芯片简介 | 第29-30页 |
| ·具体测试项目 | 第30-32页 |
| ·测试流程 | 第32-33页 |
| ·备选解决方案 | 第33-35页 |
| ·使用带有射频测试功能的ATE测试开发方案 | 第33页 |
| ·基于PXI仪表的测试开发方案 | 第33-34页 |
| ·基于低端的ATE机台外挂射频仪表的测试开发方案 | 第34-35页 |
| ·测试方案构思 | 第34-35页 |
| ·方案特点分析 | 第35页 |
| ·测试方案成本比较以及测试方案的确定 | 第35-39页 |
| ·测试方案开发成本比较 | 第35-39页 |
| ·购置机台费用及其折旧成本分析 | 第36页 |
| ·维护成本分析 | 第36-37页 |
| ·测试吞吐率分析 | 第37页 |
| ·单个芯片测试成本分析 | 第37-39页 |
| ·测试方案确定 | 第39页 |
| ·本章小结 | 第39-41页 |
| 第三章 TERADYNE J750与PXI测试系统简介 | 第41-53页 |
| ·Teradyne J750 | 第41-46页 |
| ·Teradyne J750简介 | 第41-42页 |
| ·Teradyne J750基本架构 | 第42-46页 |
| ·PXI简介 | 第46-51页 |
| ·PXI概述 | 第46-47页 |
| ·硬件架构 | 第47-51页 |
| ·PXI机箱 | 第47-48页 |
| ·PXI控制器 | 第48-50页 |
| ·PXI外围设备 | 第50-51页 |
| ·总结 | 第51页 |
| ·本章小结 | 第51-53页 |
| 第四章 软件介绍 | 第53-63页 |
| ·Teradyne IG-XL | 第53-61页 |
| ·IG-XL简介 | 第53页 |
| ·IG-XL程序界面 | 第53-54页 |
| ·DataTool | 第54-55页 |
| ·Test Template | 第55-56页 |
| ·Visual Basic Template编码介绍 | 第56-57页 |
| ·VBT简介 | 第57-59页 |
| ·Interpose Function简介 | 第59-61页 |
| ·软件架构 | 第61页 |
| ·本章小结 | 第61-63页 |
| 第五章 测试方案开发以及实现 | 第63-90页 |
| ·硬件设计 | 第63-71页 |
| ·测试方案硬件连接整体框图 | 第63-64页 |
| ·PXI的安装及信号连接 | 第64-65页 |
| ·测试接口板设计 | 第65-68页 |
| ·测试接口板子板设计 | 第65-67页 |
| ·测试接口板母板设计 | 第67-68页 |
| ·PXI模块的选择 | 第68-71页 |
| ·射频信号发生器的选择 | 第68-69页 |
| ·射频信号数字化仪的选择 | 第69-71页 |
| ·测试程序开发 | 第71-82页 |
| ·IDD测试 | 第71页 |
| ·PXI测试应用 | 第71-82页 |
| ·GSM850/900测试2测试举例 | 第72-73页 |
| ·PXI与被测芯片的通讯和PXI参数设置 | 第73-74页 |
| ·NI 5651编程 | 第74-76页 |
| ·Aeroflex 3035编程 | 第76-80页 |
| ·函数代码模块化 | 第80-81页 |
| ·VBT判断测试结果PASS/FAIL | 第81-82页 |
| ·谐波测试 | 第82页 |
| ·关闭N15651 | 第82页 |
| ·测试方案量产实现的相关问题 | 第82-86页 |
| ·仪表校准 | 第82-83页 |
| ·线路损耗补偿 | 第83页 |
| ·量产测试低成本方法 | 第83-86页 |
| ·机械手选型 | 第84-85页 |
| ·优化测试程序 | 第85-86页 |
| ·测试结果 | 第86-89页 |
| ·测试数据 | 第86-87页 |
| ·测试时间 | 第87页 |
| ·测试稳定性分析 | 第87-89页 |
| ·本章小结 | 第89-90页 |
| 第六章 测试方案的总结和展望 | 第90-92页 |
| ·测试方案总结 | 第90-91页 |
| ·测试方案应用展望 | 第91页 |
| ·本章小结 | 第91-92页 |
| 参考文献 | 第92-94页 |
| 致谢 | 第94-95页 |