多通道高精度集成电路直流参数测试
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| ·课题研究背景 | 第9-11页 |
| ·国外发展情况 | 第11-13页 |
| ·国内研究情况 | 第13-15页 |
| ·课题主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第二章 集成电路直流参数测试仪总体介绍 | 第17-23页 |
| ·测试仪基本组成和功能 | 第17-18页 |
| ·系统硬件组成 | 第18-19页 |
| ·接口部分 | 第19页 |
| ·模拟部分 | 第19-21页 |
| ·大功率模拟板 | 第19-20页 |
| ·多通道模拟板 | 第20-21页 |
| ·带隔离模拟板 | 第21页 |
| ·数字部分 | 第21-22页 |
| ·数字测试板 | 第21-22页 |
| ·时间频率测试板 | 第22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 多通道集成电路参数测试的硬件设计 | 第23-46页 |
| ·多通道直流参数测试电路设计目标 | 第23页 |
| ·设计方案及特色 | 第23-24页 |
| ·设计结构图 | 第24-26页 |
| ·接口总线 | 第26-27页 |
| ·精密测量单元AD5522 | 第27-38页 |
| ·AD5522 基本功能和内部电路 | 第27-29页 |
| ·AD5522 内部寄存器 | 第29-37页 |
| ·补偿电容的选择 | 第37-38页 |
| ·AD5522 控制实现 | 第38-40页 |
| ·工作模式 | 第40-43页 |
| ·施加电压测电流（FVMI） | 第40-42页 |
| ·施加电流测电压（FIMV） | 第42-43页 |
| ·TEST 模式 | 第43页 |
| ·扩展量程的实现 | 第43-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 多通道集成电路测试板驱动设计 | 第46-57页 |
| ·FPGA 逻辑总体介绍 | 第46页 |
| ·地址译码实现 | 第46-47页 |
| ·AD5522 时序逻辑分析 | 第47-49页 |
| ·SPI 模块实现 | 第49-52页 |
| ·AD 模块实现 | 第52-53页 |
| ·驱动函数设计 | 第53-56页 |
| ·底层测试函数设计流程图 | 第53-54页 |
| ·底层驱动代码 | 第54-55页 |
| ·FVMV 函数变量参数说明 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第五章 实验结果分析以及误差校准 | 第57-65页 |
| ·误差分析 | 第57-59页 |
| ·芯片内部校准 | 第59-60页 |
| ·软件校准 | 第60-65页 |
| 第六章 结论和展望 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 攻读硕士期间取得的研究成果 | 第69-70页 |
