| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 引言 | 第6-18页 |
| ·研究背景 | 第6-7页 |
| ·数字电路测试技术的发展 | 第7-9页 |
| ·集成测试系统的发展 | 第9-11页 |
| ·汽车集成电路的特点及测试技术国内外研究概况 | 第11-15页 |
| ·新兴的通讯标准 | 第11-12页 |
| ·42V电源网络 | 第12-13页 |
| ·数字功率集成电路 | 第13页 |
| ·汽车SOP(System on package片上系统) | 第13-14页 |
| ·RDSon和短路电流测试 | 第14-15页 |
| ·国外测试技术概况 | 第15页 |
| ·课题研究的意义及论文组织 | 第15-16页 |
| ·课题研究的意义 | 第15-16页 |
| ·论文组织 | 第16页 |
| ·本章小结 | 第16-18页 |
| 第二章 测试系统功能分析 | 第18-34页 |
| ·混合信号电路对测试的要求 | 第18-20页 |
| ·混合信号电路对测试的要求 | 第18页 |
| ·混合信号电路的测试方案 | 第18-19页 |
| ·汽车电子混合信号电路对测试的需求 | 第19-20页 |
| ·混合信号电路测试系统的体系结构 | 第20-24页 |
| ·测试系统发展方向及应用要求 | 第24-25页 |
| ·测试系统功能比较 | 第25-32页 |
| ·泰瑞达(TERADYNE) | 第25-27页 |
| ·惠瑞捷(VERIGY) | 第27-29页 |
| ·德律泰测试设备 | 第29-30页 |
| ·测试机台功能参数比较 | 第30-31页 |
| ·其他测试设备 | 第31-32页 |
| ·本章小结 | 第32-34页 |
| 第三章 汽车智能功率集成电路测试方法 | 第34-47页 |
| ·开关资源测试路径模型及应用 | 第34-36页 |
| ·通用ATE开关资源测试路径模型 | 第34-36页 |
| ·测试路径匹配、可达、冲突分析 | 第36页 |
| ·直流参数测试技术 | 第36-40页 |
| ·开路/短路测试 | 第36-37页 |
| ·漏电流(IIL,IIH,IOZ)测试 | 第37-38页 |
| ·IIL与IIH测试 | 第38页 |
| ·IOZ测试 | 第38页 |
| ·输出驱动电流(VOL,VOH,IOL,IOH)测试 | 第38-39页 |
| ·VOH/IOH测试 | 第38-39页 |
| ·2VOL/IOL测试 | 第39页 |
| ·电源电流测试 | 第39-40页 |
| ·转换电平(VIL,VIH)测试 | 第40页 |
| ·交流参数测试技术 | 第40页 |
| ·功能测试技术 | 第40-42页 |
| ·测试向量 | 第40-41页 |
| ·测试资源的消耗 | 第41-42页 |
| ·基于DSP数字信号处理器的测试技术 | 第42-45页 |
| ·基于DSP的优点 | 第42-43页 |
| ·基于DSP的功能测试 | 第43-44页 |
| ·基于DSP测试仪的原理 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-47页 |
| 第四章 汽车智能功率芯片测试分析与实现 | 第47-95页 |
| ·目标芯片概况 | 第47-48页 |
| ·目标芯片特性 | 第47-48页 |
| ·目标芯片工艺简介 | 第48页 |
| ·测试硬件电路实现 | 第48-57页 |
| ·测试系统硬件连接整体框图 | 第48-49页 |
| ·TR6850测试系统组成 | 第49-54页 |
| ·目标芯片测试接口板及适配板 | 第54-57页 |
| ·测试软件实现 | 第57-93页 |
| ·TR6850软件编程环境 | 第57-59页 |
| ·测试流程 | 第59-60页 |
| ·参数测试软件实现 | 第60-93页 |
| ·下拉电流IIN_PD | 第60-63页 |
| ·嵌位电压VDS(AZ) | 第63-67页 |
| ·关断状态下吸入电流IOUT_PD | 第67-69页 |
| ·导通状态下源漏极间电阻RDSon | 第69-73页 |
| ·开启时间Ton | 第73-75页 |
| ·关闭时间Toff | 第75-78页 |
| ·过流保护及关断延迟IOVC&Tdel | 第78-83页 |
| ·过流保护恢复时间Tres | 第83-86页 |
| ·开路电压Voutopen | 第86-89页 |
| ·短路到地检测阈值&开路检测功能Vtgnd&Vtopen | 第89-93页 |
| ·本章小结 | 第93-95页 |
| 第五章 总结与展望 | 第95-97页 |
| ·测试方案总结 | 第95页 |
| ·测试技术展望 | 第95-97页 |
| 参考文献 | 第97-101页 |
| 致谢 | 第101-102页 |