一种标准单元库功能测试模块的设计
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-9页 |
·研究背景 | 第7页 |
·本文研究内容及章节安排 | 第7-9页 |
第二章 功能测试模块设计流程及相关知识介绍 | 第9-15页 |
·标准单元库功能测试模块的设计流程 | 第9-10页 |
·中芯国际0.35um 标准单元库简介 | 第10-13页 |
·Tcl 语言介绍 | 第13-14页 |
·IC 设计中对象的概念 | 第14页 |
·本章小结 | 第14-15页 |
第三章 功能测试模块的设计 | 第15-29页 |
·功能测试模块的设计要求 | 第15-16页 |
·功能测试模块的顶层设计 | 第16-17页 |
·COMB_BLOCK 模块介绍及代码分析 | 第17-25页 |
·DFF_BLOCK 模块介绍 | 第25-28页 |
·本章小结 | 第28-29页 |
第四章 功能测试模块的综合及STA 分析 | 第29-45页 |
·使用DC 综合工具的基本流程介绍 | 第29-30页 |
·标准单元库功能测试模块的综合 | 第30-38页 |
·静态时序分析的基本流程介绍 | 第38页 |
·测试模块的静态时序分析 | 第38-44页 |
·本章小结 | 第44-45页 |
第五章 功能测试模块的布局布线及后端分析 | 第45-69页 |
·ICC 布局布线工具的基本流程介绍 | 第45页 |
·使用ICC 对测试模块进行布局布线 | 第45-56页 |
·后端分析流程介绍 | 第56页 |
·形式验证的基本流程介绍 | 第56-58页 |
·对经过布局布线的网表进行形式验证 | 第58-60页 |
·布线后的静态时序分析 | 第60-64页 |
·VCS 动态时序仿真工具介绍 | 第64-65页 |
·使用VCS 对测试模块进行动态仿真 | 第65-68页 |
·本章小结 | 第68-69页 |
第六章 测试图形的生成及测试 | 第69-73页 |
·测试图形的生成 | 第69-72页 |
·对测试模块进行测试 | 第72-73页 |
第七章 总结与展望 | 第73-75页 |
·全文工作总结 | 第73-74页 |
·进一步研究与展望 | 第74-75页 |
致谢 | 第75-77页 |
参考文献 | 第77-79页 |
攻读硕士学位期间所做的工作 | 第79-80页 |