基于边界扫描技术的PCB功能模件测试方法的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-16页 |
| ·课题的提出及其意义 | 第11-12页 |
| ·国内外研究状况 | 第12-14页 |
| ·本课题的主要研究工作 | 第14-16页 |
| 第2章 边界扫描技术基本理论 | 第16-28页 |
| ·边界扫描技术概况 | 第16页 |
| ·边界扫描测试的基本原理 | 第16-18页 |
| ·边界扫描测试的结构 | 第18-23页 |
| ·TAP 控制器（TAP Controller） | 第19-20页 |
| ·测试数据寄存器 | 第20-21页 |
| ·指令寄存器 | 第21页 |
| ·边界扫描寄存器 | 第21-22页 |
| ·旁路寄存器 | 第22页 |
| ·器件标志寄存器 | 第22-23页 |
| ·边界扫描基本类型和方法 | 第23-26页 |
| ·边界扫描链的完备性测试 | 第23页 |
| ·互连测试 | 第23-24页 |
| ·功能测试 | 第24页 |
| ·簇测试 | 第24-26页 |
| ·边界扫描描述语言 | 第26-27页 |
| ·边界扫描描述语言简介 | 第26页 |
| ·边界扫描描述语言主要组成 | 第26-27页 |
| ·边界扫描描述语言（BSDL）文件 | 第27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 边界扫描测试生成算法研究 | 第28-39页 |
| ·边界扫描测试的基本概念及故障模型 | 第28-31页 |
| ·基本概念 | 第28-30页 |
| ·故障模型 | 第30-31页 |
| ·边界扫描板级测试的数学模型 | 第31-33页 |
| ·边界扫描板级测试的故障判定条件 | 第33-34页 |
| ·故障检测的紧凑性定理 | 第33页 |
| ·故障诊断的完备性定理 | 第33-34页 |
| ·传统互连测试算法研究 | 第34-36页 |
| ·改良计数序列算法 | 第35-36页 |
| ·移位“1”算法（WOA） | 第36页 |
| ·等权值算法的优化 | 第36-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第4章 边界扫描测试软件设计 | 第39-58页 |
| ·边界扫描测试系统的组成 | 第39页 |
| ·边界扫描测试软件的组成、功能以及其工作过程 | 第39-41页 |
| ·边界扫描测试软件的组成 | 第39页 |
| ·测试软件的功能 | 第39-40页 |
| ·边界扫描测试软件的工作过程 | 第40-41页 |
| ·测试软件各模块的设计 | 第41-50页 |
| ·TAP 控制模块的设计 | 第41-42页 |
| ·测试图形的生成设计 | 第42-46页 |
| ·完整性测试的设计 | 第46-47页 |
| ·旁路功能测试设计 | 第47页 |
| ·互连测试设计 | 第47-48页 |
| ·静态功能测试设计 | 第48-49页 |
| ·故障诊断模块设计 | 第49-50页 |
| ·辅助功能设计 | 第50页 |
| ·测试前的准备工作 | 第50-52页 |
| ·Init 复位 | 第50页 |
| ·TAP 控制类 | 第50-51页 |
| ·指令代码的输入输出 | 第51页 |
| ·芯片ID 码的读取 | 第51-52页 |
| ·结果分析 | 第52-57页 |
| ·完整性测试结果分析 | 第52-53页 |
| ·互连测试结果分析 | 第53-55页 |
| ·器件功能测试结果分析 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 结论 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64页 |
