| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-13页 |
| 第1章 绪论 | 第13-24页 |
| ·课题来源及研究目的和意义 | 第13-16页 |
| ·课题来源 | 第13页 |
| ·课题研究目的和意义 | 第13-16页 |
| ·电子系统内建自测试测试矢量生成研究现状及分析 | 第16-18页 |
| ·数字电路BIST测试矢量生成研究现状及分析 | 第16-17页 |
| ·模拟电路BIST测试矢量生成研究现状及分析 | 第17-18页 |
| ·电子系统可测性建模研究现状及分析 | 第18-21页 |
| ·测试序列优化研究现状及分析 | 第21-22页 |
| ·本文主要研究内容 | 第22-24页 |
| 第2章 基于混沌模型的自动测试矢量生成 | 第24-58页 |
| ·引言 | 第24页 |
| ·基于D-Tent混沌模型的自动测试矢量生成 | 第24-41页 |
| ·D-Tent混沌模型的构造与特性分析 | 第25-33页 |
| ·D-Tent混沌模型自动测试矢量生成硬件实现 | 第33-34页 |
| ·基于CRC校验原理的内建自测试数字电路输出响应分析 | 第34-36页 |
| ·故障检测率和故障隔离率 | 第36-37页 |
| ·实验结果及分析 | 第37-41页 |
| ·基于D-PL混沌模型的自动测试矢量生成 | 第41-49页 |
| ·D-PL混沌模型的构造与特性分析 | 第41-44页 |
| ·D-PL混沌模型自动测试矢量生成硬件实现 | 第44-45页 |
| ·实验结果及分析 | 第45-49页 |
| ·基于混沌模型的模拟电路自动测试矢量生成 | 第49-57页 |
| ·模拟电路内建自测试结构 | 第49-50页 |
| ·混沌模型自动测试矢量的构造与故障特征提取 | 第50-55页 |
| ·仿真实验及分析 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第3章 模拟电路内建自测试故障特征提取与优化 | 第58-78页 |
| ·引言 | 第58页 |
| ·模拟电路内建自测试故障特征提取与优化 | 第58-70页 |
| ·基于方波的模拟电路内建自测试结构 | 第58-59页 |
| ·多维故障特征提取与优化 | 第59-63页 |
| ·实验结果及分析 | 第63-70页 |
| ·基于故障特征优化的模拟电路内建自测试故障诊断 | 第70-77页 |
| ·模拟电路故障诊断方法 | 第70-71页 |
| ·内建自测试故障字典法 | 第71-73页 |
| ·实验结果及分析 | 第73-77页 |
| ·本章小结 | 第77-78页 |
| 第4章 电子系统内建自测试层次化可测性建模 | 第78-93页 |
| ·引言 | 第78页 |
| ·电子系统可测性建模策略 | 第78-80页 |
| ·电子系统内建自测试层次化可测性建模 | 第80-92页 |
| ·系统级可测性建模 | 第80-81页 |
| ·元器件级可测性建模 | 第81-84页 |
| ·实验结果及分析 | 第84-92页 |
| ·本章小结 | 第92-93页 |
| 第5章 基于Petri网的测试序列优化与故障推理 | 第93-114页 |
| ·引言 | 第93页 |
| ·Petri网故障诊断模型 | 第93-96页 |
| ·Petri网理论 | 第93-95页 |
| ·Petri网故障诊断模型 | 第95-96页 |
| ·基于测试重要度的Perti网测试序列优化算法 | 第96-103页 |
| ·测试代价与测试重要度函数 | 第96-98页 |
| ·基于测试重要度的Petri网全局搜索算法 | 第98-99页 |
| ·实验结果及分析 | 第99-103页 |
| ·逻辑Petri网的故障推理 | 第103-112页 |
| ·逻辑行为Petri网故障诊断模型的建立 | 第104-105页 |
| ·0-1 逻辑逆向推理方法 | 第105-108页 |
| ·实验结果及分析 | 第108-112页 |
| ·本章小结 | 第112-114页 |
| 第6章 内建自测试典型电子系统设计 | 第114-142页 |
| ·引言 | 第114页 |
| ·内建自测试的典型电子系统设计方案 | 第114-116页 |
| ·内建自测试可测性设计策略与可测性措施 | 第116-120页 |
| ·内建自测试可测性设计策略 | 第116-118页 |
| ·测试指标 | 第118-119页 |
| ·可测性设计措施 | 第119-120页 |
| ·基于DSP的内建自测试主控制器设计 | 第120-123页 |
| ·内建自测试主控制器设计 | 第120-121页 |
| ·DSP主控制器的硬件设计 | 第121-122页 |
| ·DSP主控制器的软件设计 | 第122-123页 |
| ·FPGA子模块内建自测试设计 | 第123-127页 |
| ·信号调理电路内建自测试可测性设计 | 第127-129页 |
| ·典型电子系统可测性建模 | 第129-136页 |
| ·系统级可测性建模 | 第129-132页 |
| ·元器件级可测性建模 | 第132-136页 |
| ·系统测试序列优化 | 第136-139页 |
| ·实验结果及分析 | 第139-141页 |
| ·本章小结 | 第141-142页 |
| 结论 | 第142-144页 |
| 参考文献 | 第144-153页 |
| 附录 | 第153-156页 |
| 攻读博士学位期间发表的学术论文及研究成果 | 第156-159页 |
| 致谢 | 第159-160页 |
| 个人简历 | 第160页 |