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可靠性及例行试验
基于GSTE模型检测的信号并串转换模块功能验证的研究
半导体芯片最终测试系统调度优化仿真研究
静电放电信号与电子线路的耦合研究
军用集成电路老炼筛选技术研究
互连线高效时域模型降阶算法研究
基于测试结构的CMOS工艺可靠性评价方法研究
一种基于Monte Carlo的概率化电路故障注入方法设计与实现
数字锁相环电路可靠性预测
集成电路电学可靠性验证方法研究
无铅焊料中孔洞的表征及其对损伤与失效的影响研究
SIM卡中7816接口的UVM验证平台设计与实现
集成电路的老化预测与ESD防护研究
基于纤维吸液芯结构平板微热管的研究
微细通道换热器仿生设计与传热传质优化研究
半导体器件和集成电路的电—热—力特性的多物理场仿真研究
基于FPGA的IC时间参数测量单元的设计与验证
小时延测试向量分组与向量筛选方法研究
IBIS模型的重构方法研究
提高LED驱动IC可靠性的方法研究
GSM芯片的逻辑物理综合与验证
基于小波理论与LSSVM的模拟集成电路故障诊断方法
梯度润湿表面的制备及对沟槽微热管传热性能影响研究
微波裸芯片临时封装与测试技术研究
工艺波动相关的集成电路互连线寄生参数提取方法研究
深PN结芯片的深沟槽腐蚀研究
软件和硬件相结合的MP3芯片低功耗实现
芯片的玻璃钝化研究
基于失效物理的电子系统可靠性预计研究与实现
铜互连可靠性有限元模拟分析
原子层淀积二氧化钛叠层栅介质特性的研究
射频集成电路的ESD防护技术研究
深亚微米SONOS非易失性存储器的可靠性研究
高速集成电路片内互连的电磁建模和参数提取研究
集成电路电离辐射效应数值模拟及X射线剂量增强效应的研究
MOS器件潜在损伤的1/f噪声检测方法研究
集成电路测试运作与研析
JTAG软核测试与应用设计
SOG结构微热管理论研究
MOS集成电路可靠性保障数据应用研究
集成电路静电放电（ESD）保护器件及其保护机理的研究
无铅便携式电子产品板级组件的TFBGA跌落可靠性研究
数字集成电路多故障测试生成算法和可测性设计的研究
数字化芯片微阵列点样实验及稳定性研究
挠性电路板在高弯曲应力中的试验研究
基于折叠计数器的集成电路低功耗BIST研究
基于机器视觉的表面贴装芯片引脚检测的研究
军用集成电路典型失效模式分析与改进措施研究
基准测试驱动的ASIP设计研究
基于线性规划的RTL性质验证研究
基于Boole过程的考虑互连效应的EDA方法研究
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