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可靠性及例行试验
数字集成电路测试生成算法研究
基于微流体数字化技术的非接触式点样实验研究
微电子器件可靠性建模与仿真的逾渗分析方法
数字IC测试及其在虚拟实验系统中的应用
集成电路功能成品率模型及参数提取方法的研究
集成电路软故障与成品率相关技术研究
基于IC产品最优分档的效益协调优化模型及求解研究
特种芯片集成中的可测性设计
IDDT动态电流测试方法研究
微电子器件快速评价新方法的研究
厚膜集成电路的计算机辅助检验
片内互连频变电磁参数（R和L）提取及软件的制作
芯片级电路故障检测技术研究
集成电路封装质量自动检测系统的设计
集成电路缺陷分布模型和容错技术研究
VLSI测试程序验证及其支撑环境—理论、方法和实践
集成电路局部缺陷及其相关的功能成品率和电迁徙问题的研究
数字集成电路软错误敏感性分析与可靠性优化技术研究
PLD安全性漏洞检测平台研究与实现
基于倒装焊接的电子封装器件热性能的研究
热载荷下无铅焊点可靠性电测方法研究
跌落对手持设备中闪存芯片可靠性的影响
仪控设备的模拟机电路板测试系统研究
集成电路芯片级热分析方法研究
纳米工艺集成电路的统计可靠性分析以及并行优化算法
纳米集成电路软错误分析与缓解技术研究
基于冲突移除的冗余孔的插入
制造工艺对超深亚微米铝互连线通孔应力迁移可靠性的影响
集成电路失效分析研究
Sn58Bi焊料热界面材料热循环作用下性能与损伤研究
大规模集成电路老炼的分析与研究
组合电路SET若干效应及软错误率分析
微悬臂梁-DNA芯片的弯电效应
基于力学加载的柔性电子弯曲疲劳试验机的研制
2.7GHz高速接口电路的ESD电路设计及仿真分析
大功率模拟集成电路直流参数测试
基于OVM架构的EPA芯片验证的研究
基于静电感应晶闸管的ESD保护器件特性研究
基于MT-6000系统级模拟与验证的技术研究
硬件木马及其目标电路的研究
基于SMT约束求解器的Verilog组合电路等价性验证
基于飞秒激光抽运—探测技术的纳米薄膜热输运特性研究
基因芯片表面活性化修饰
光学聚焦驱动电路电源完整性仿真
新型纳米器件的电学特性和可靠性研究
可重构计算系统芯片中的动态数据调度模型及部件的研究
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