军用集成电路老炼筛选技术研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 课题研究目的和意义 | 第8页 |
| 1.2 老炼筛选技术发展现状 | 第8-11页 |
| 1.2.1 国外集成电路可靠性筛选技术发展现状 | 第8-10页 |
| 1.2.2 国内集成电路老炼筛选技术现状 | 第10-11页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第11-13页 |
| 第2章 老炼筛选试验基础 | 第13-27页 |
| 2.1 引言 | 第13页 |
| 2.2 军用集成电路老炼试验标准 | 第13-14页 |
| 2.3 可靠性筛选试验和可靠性检验 | 第14-18页 |
| 2.3.1 可靠性试验 | 第14-16页 |
| 2.3.2 可靠性筛选试验 | 第16-17页 |
| 2.3.3 可靠性试验鉴定检验 | 第17-18页 |
| 2.4 老炼试验设备 | 第18-20页 |
| 2.5 老炼试验概念和原理 | 第20-26页 |
| 2.5.1 老炼试验的概念 | 第20页 |
| 2.5.2 老炼试验的目的 | 第20-23页 |
| 2.5.3 老炼试验工作原理 | 第23-25页 |
| 2.5.4 老炼试验的难点 | 第25-26页 |
| 2.6 本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 老炼筛选关键技术研究 | 第27-37页 |
| 3.1 老炼试验应力参数大小的研究 | 第27-30页 |
| 3.1.1 试验应力 | 第27-29页 |
| 3.1.2 老炼试验应力条件 | 第29-30页 |
| 3.2 老炼试验过程中的抗闩锁措施 | 第30-31页 |
| 3.2.1 失效现象分析 | 第30-31页 |
| 3.2.2 控制加电顺序防止闩锁效应 | 第31页 |
| 3.3 老炼试验电连接性的检测 | 第31-33页 |
| 3.4 老炼试验板的设计 | 第33-34页 |
| 3.4.1 老炼试验板的重要性 | 第33页 |
| 3.4.2 老炼试验板的设计技巧 | 第33-34页 |
| 3.5 老炼试验电阻的选用 | 第34-36页 |
| 3.6 本章小结 | 第36-37页 |
| 第4章 典型军用集成电路老炼筛选方案研究 | 第37-50页 |
| 4.1 引言 | 第37-38页 |
| 4.2 军用微处理器老炼筛选方案 | 第38-41页 |
| 4.2.1 特点和难点分析 | 第38-39页 |
| 4.2.2 老炼试验方案 | 第39-40页 |
| 4.2.3 典型电路验证 | 第40-41页 |
| 4.3 军用SOC产品老炼试验方案 | 第41-44页 |
| 4.3.1 特点和难点分析 | 第41-43页 |
| 4.3.2 老炼试验方案 | 第43页 |
| 4.3.3 典型电路验证 | 第43-44页 |
| 4.4 军用FPGA产品老炼试验方案 | 第44-49页 |
| 4.4.1 特点和难点分析 | 第44-45页 |
| 4.4.2 典型电路试验方案 | 第45-47页 |
| 4.4.3 典型电路验证 | 第47-49页 |
| 4.5 本章小结 | 第49-50页 |
| 结论 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-55页 |
| 致谢 | 第55页 |
