首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--一般性问题论文--可靠性及例行试验论文

JTAG软核测试与应用设计

致谢第1-6页
中文摘要第6-7页
ABSTRACT第7-11页
1 引言第11-14页
   ·课题的背景和意义第11-12页
   ·边界扫描的基本思想第12页
   ·边界扫描的优势和应用前景第12-13页
   ·论文结构安排第13-14页
2 边界扫描技术和IEEE1149.1标准第14-30页
   ·边界扫描技术的基本原理第14页
   ·边界扫描设备的硬件结构和IEEE1149.1标准第14-16页
   ·测试存取通道TAP第16-18页
   ·TAP控制器第18-23页
   ·指令寄存器IR第23页
   ·测试数据寄存器组第23-27页
   ·JTAG指令简介第27-30页
3 ASIC设计方法与HDL技术第30-34页
   ·ASIC设计方法第30-31页
   ·HDL技术第31-34页
4 基于Verilog的JTAG软核设计与验证第34-44页
   ·JTAG模块划分第34页
   ·JTAG软核的基本结构第34-36页
   ·JTAG的RTL级模型设计要求第36页
   ·JTAG软核的Verilog模型第36-37页
   ·JTAG软核的验证第37-44页
     ·功能仿真第37-42页
     ·综合及时序仿真第42-44页
5 逻辑综合第44-60页
   ·逻辑综合概述第44-45页
   ·ASIC逻辑综合过程第45-57页
   ·逻辑综合后仿真第57-60页
6 版图设计第60-71页
   ·基于标准单元的版图设计方法第61-62页
   ·自动布局布线第62-66页
     ·自动布局布线流程第63-64页
     ·布局第64页
     ·布线第64-66页
   ·JTAG的版图实现第66-68页
     ·JTAG版图第66-67页
     ·时序分析第67-68页
   ·版图验证第68-69页
   ·后仿真第69-71页
7 结论第71-73页
参考文献第73-75页
附录第75-76页
作者简历第76-78页
学位论文数据集第78-79页

论文共79页,点击 下载论文
上一篇:基于B/S和C/S混合模式车辆维修管理信息系统开发
下一篇:基于瓶颈分析的离散制造系统在制品库存控制研究