| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| ·集成电路测试产业介绍 | 第8-9页 |
| ·集成电路自动测试设备(ATE)国内外现状 | 第9-10页 |
| ·课题的来源及意义 | 第10-11页 |
| ·本文的研究内容与结构 | 第11-13页 |
| 第二章 IC时间参数测试方法研究 | 第13-26页 |
| ·集成电路参数测试 | 第14-17页 |
| ·直流参数测试 | 第14-15页 |
| ·交流参数测试 | 第15-17页 |
| ·时间测量方法研究 | 第17-19页 |
| ·基于模拟电路的方法 | 第17-19页 |
| ·数字化TDC方法 | 第19-26页 |
| ·抽头延迟线法 | 第20-21页 |
| ·Vernier方法 | 第21-23页 |
| ·“粗测量”和“细测量”相结合的方法 | 第23-26页 |
| 第三章 IC时间参数测量板硬件设计与验证 | 第26-43页 |
| ·模拟IC自动测试系统概述 | 第26-27页 |
| ·IC时间参数测量板硬件结构 | 第27-28页 |
| ·通道控制与输入电路单元 | 第28-31页 |
| ·通道控制 | 第28-29页 |
| ·输入电路设计 | 第29-31页 |
| ·比较器电路 | 第31-38页 |
| ·阂值的产生与设定 | 第34-36页 |
| ·逻辑电平转换 | 第36-38页 |
| ·RMS模块 | 第38-41页 |
| ·电源模块 | 第41-42页 |
| ·PCB设计 | 第42-43页 |
| 第四章 IC时间参数测量的FPGA设计 | 第43-58页 |
| ·FPGA平台介绍与搭建 | 第43-50页 |
| ·FPGA平台的比较与选择 | 第44-47页 |
| ·Xilinx Virtex-4资源平台搭建与配置 | 第47-50页 |
| ·时间测量的FPGA实现 | 第50-58页 |
| ·DCM模块实现时钟倍频与相移 | 第50-51页 |
| ·时间间隔测量实现 | 第51-53页 |
| ·周期与脉宽的测量 | 第53-54页 |
| ·比较器抖动处理 | 第54-58页 |
| 第五章 测试数据与结果分析 | 第58-64页 |
| ·测试平台 | 第58页 |
| ·测试数据与分析 | 第58-63页 |
| ·测试总结 | 第63-64页 |
| 第六章 结论和展望 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 附录 | 第68-70页 |
| 附录Ⅰ TMU/RMS测量板布局 | 第68-69页 |
| 附录Ⅱ TMU/RMS测量板PCB版图 | 第69-70页 |
| 攻读硕士期间取得的成果 | 第70页 |