| 中文摘要 | 第1-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-11页 |
| 第一节 ATES简介 | 第8-9页 |
| 第二节 ATES的竞争优势 | 第9-11页 |
| 第二章 测试生产运作系统 | 第11-27页 |
| 第一节 何谓IC测试 | 第11-13页 |
| 第二节 测试生产过程程序展开图 | 第13-14页 |
| 第三节 整个测试过程生产能力确定 | 第14-19页 |
| 第四节 设施布置改造 | 第19-21页 |
| 第五节 IC测试运作策略 | 第21-27页 |
| 第三章 ATES产品测试生产再造流程 | 第27-34页 |
| 第一节 BPR背景和概念 | 第27页 |
| 第二节 ATES产品测试生产再造流程的过程 | 第27-31页 |
| 第三节 ATES产品测试生产再造流程（BPR）的探讨 | 第31-34页 |
| 第四章 IC测试工程与设备选择 | 第34-44页 |
| 第一节 IC测试战略 | 第34-35页 |
| 第二节 IC测试设备的选择 | 第35-37页 |
| 第三节 IC测试设备选择过程决策 | 第37-44页 |
| 第五章 ATES IC测试生产和设备维护主要运作链基本模型和分析 | 第44-59页 |
| 第一节 问题的引出 | 第44页 |
| 第二节 关于Ithink | 第44-45页 |
| 第三节 Ithink的表述特征 | 第45页 |
| 第四节 IC测试运作建模的意义和作用 | 第45-46页 |
| 第五节 IC测试生产和设备维护主要运作链基本模型和分析 | 第46-59页 |
| 第六章 ATES IC测试前景展望 | 第59-62页 |
| 第一节 背景与机遇 | 第59页 |
| 第二节 面临的挑战 | 第59-60页 |
| 第三节 未来的发展 | 第60-62页 |
| 参考文献和致谢 | 第62-140页 |
