| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 集成电路发展概述 | 第11-12页 |
| 1.2 逻辑电路可靠性面临的挑战 | 第12-13页 |
| 1.3 本文的主要工作及组织结构 | 第13-16页 |
| 第2章 逻辑电路可靠性及其评估方法 | 第16-32页 |
| 2.1 逻辑电路可靠性 | 第16-22页 |
| 2.1.1 可靠性概念 | 第16-17页 |
| 2.1.2 国内外研究现状 | 第17-18页 |
| 2.1.3 不同层面的可靠性评估 | 第18-22页 |
| 2.2 可靠性评估方法 | 第22-26页 |
| 2.3 Monte Carlo方法介绍 | 第26-30页 |
| 2.3.1 Monte Carlo方法的产生 | 第27-29页 |
| 2.3.2 Monte Carlo方法的发展 | 第29-30页 |
| 2.3.3 Monte Carlo方法的应用 | 第30页 |
| 2.4 小结 | 第30-32页 |
| 第3章 基于经验值的Monte Carlo方法 | 第32-46页 |
| 3.1 方法介绍 | 第32页 |
| 3.2 方法设计 | 第32-37页 |
| 3.3 方法实现 | 第37-43页 |
| 3.4 实验与分析 | 第43-46页 |
| 第4章 基于自适应策略的Monte Carlo方法 | 第46-51页 |
| 4.1 方法介绍 | 第46页 |
| 4.2 方法设计 | 第46-48页 |
| 4.3 方法实现 | 第48-50页 |
| 4.4 实验与分析 | 第50-51页 |
| 第5章 结论与展望 | 第51-53页 |
| 5.1 结论 | 第51页 |
| 5.2 展望 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-55页 |
| 致谢 | 第55页 |