| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-20页 |
| 1.1 引言 | 第11-12页 |
| 1.2 芯片制造国内外研究综述 | 第12-17页 |
| 1.3 本文研究现实意义 | 第17-18页 |
| 1.4 本文主要内容及结构安排 | 第18-20页 |
| 第2章 双重入中心半导体芯片测试系统 | 第20-25页 |
| 2.1 半导体芯片测试系统工艺简介 | 第20-21页 |
| 2.2 半导体终端测试复杂性 | 第21-23页 |
| 2.3 半导体终端测试关键性能指标 | 第23-25页 |
| 第3章 芯片复杂测试系统仿真建模 | 第25-37页 |
| 3.1 芯片测试系统仿真建模基础 | 第25-28页 |
| 3.2 芯片终端测试系统建模 | 第28-32页 |
| 3.2.1 重入性集成电路终端测试调度问题工艺流程 | 第28-29页 |
| 3.2.2 ICFTSP-R数学模型 | 第29-32页 |
| 3.3 基于ExtendSim仿真软件的芯片终端测试系统建模 | 第32-37页 |
| 3.3.1 ICFTSP-R模型中的组批 | 第32-34页 |
| 3.3.2 ICFTSP-R的ExtendSim仿真模型 | 第34-37页 |
| 第4章 ICFTSP-R调度控制策略 | 第37-52页 |
| 4.1 ICFTSP-R典型性能指标 | 第37-38页 |
| 4.2 IC终端测试系统的调度规则 | 第38-39页 |
| 4.3 四层次调度策略 | 第39-44页 |
| 4.3.1 ICFTSP-R瓶颈识别 | 第39-41页 |
| 4.3.2 投料批量的确定 | 第41-42页 |
| 4.3.3 启发式算法对测试机缓冲区工件排序 | 第42-44页 |
| 4.4 调度规则对ICFTSP-R的仿真分析 | 第44-52页 |
| 4.4.1 ExtendSim数据使用 | 第45-46页 |
| 4.4.2 多种调度策略的仿真分析 | 第46-52页 |
| 第5章 基于ICFTSP-R平衡的投料策略 | 第52-68页 |
| 5.1 芯片测试系统的生产线平衡 | 第52-53页 |
| 5.2 生产线负荷平衡控制 | 第53-55页 |
| 5.3 避免饥饿的负荷均衡动态投料(RSALB) | 第55-57页 |
| 5.4 RSALB策略在ExtendSim中的仿真分析 | 第57-68页 |
| 结论 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
