数字锁相环电路可靠性预测
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 课题背景及研究目的和意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状分析 | 第9-11页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第11页 |
| 1.4 论文结构安排 | 第11-13页 |
| 第2章 失效机理模型 | 第13-25页 |
| 2.1 热载流子效应 | 第13-16页 |
| 2.1.1 热载流子效应概述 | 第13-14页 |
| 2.1.2 热载流子效应失效模型 | 第14-16页 |
| 2.2 负偏置温度不稳定性 | 第16-19页 |
| 2.2.1 负偏置温度不稳定性概述 | 第16-17页 |
| 2.2.2 负偏置温度不稳定性失效模型 | 第17-19页 |
| 2.3 辐射效应 | 第19-22页 |
| 2.3.1 辐射效应概述 | 第19-20页 |
| 2.3.2 辐射效应失效模型 | 第20-22页 |
| 2.4 失效机理模型应用 | 第22-24页 |
| 2.5 本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 数字锁相环电路设计 | 第25-38页 |
| 3.1 数字锁相环概述 | 第25-27页 |
| 3.2 时间数字转换器 | 第27-30页 |
| 3.2.1 时间数字转换器介绍 | 第27-28页 |
| 3.2.2 时间数字转换器设计 | 第28-30页 |
| 3.3 数控振荡器 | 第30-33页 |
| 3.3.1 数控振荡器介绍 | 第30页 |
| 3.3.2 数控振荡器设计 | 第30-33页 |
| 3.4 数字滤波器 | 第33-35页 |
| 3.4.1 数字滤波器设计 | 第33-34页 |
| 3.4.2 数据转换模块 | 第34-35页 |
| 3.5 分频器 | 第35-36页 |
| 3.6 锁相环电路整体仿真 | 第36-37页 |
| 3.7 本章小结 | 第37-38页 |
| 第4章 数字锁相环预测模型与失效分析 | 第38-61页 |
| 4.1 时间数字转换器预测模型与失效分析 | 第38-46页 |
| 4.1.1 反相器链老化分析 | 第38-41页 |
| 4.1.2 D触发器老化分析 | 第41-44页 |
| 4.1.3 时间数字转换器预测模型 | 第44-46页 |
| 4.2 数控振荡器预测模型与失效分析 | 第46-52页 |
| 4.2.1 MOS管电容对失效影响分析 | 第47-50页 |
| 4.2.2 失效机理对数控振荡器频率影响 | 第50-51页 |
| 4.2.3 失效机理对数控振荡器延时影响 | 第51-52页 |
| 4.3 数字滤波器预测模型与失效分析 | 第52-54页 |
| 4.4 分频器预测模型与失效分析 | 第54-57页 |
| 4.5 整体电路预测模型 | 第57-59页 |
| 4.6 本章小结 | 第59-61页 |
| 第5章 数字锁相环电路可靠性测试 | 第61-70页 |
| 5.1 数字锁相环电路仿真 | 第61-63页 |
| 5.2 硬件平台搭建 | 第63-65页 |
| 5.2.1 硬件平台搭建原理 | 第63-64页 |
| 5.2.2 硬件平台搭建 | 第64-65页 |
| 5.3 数据传输通路 | 第65-68页 |
| 5.4 硬件测试结果 | 第68-69页 |
| 5.5 本章小结 | 第69-70页 |
| 结论 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-77页 |
| 致谢 | 第77页 |
