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一般性问题
集成电路多故障测试生成算法及可测性设计的研究
基于遗传优化的三值神经网络测试生成算法
功率载荷下叠层芯片尺寸封装热应力分析
基于SOPC技术的UPFC控制系统设计
微电子组装焊点可靠性及其铅污染问题的研究
叠层芯片封装可靠性分析与结构参数优化
体系结构级低能耗Cache和动态电压缩放技术研究
小波变换的开关电流技术实现研究
基于SMT电子产品的无铅化技术研究及检测
基于电子标签的分拣系统的策略分析与研究
手机用TFT-LCM电路设计与测试平台的研究
基于粒子群算法和蚂蚁算法的瞬态电流测试生成研究
基于片段间转移的低功耗测试结构研究与实现
基于多相时钟的PCI Express2.0物理层解决方案与实现
星载处理器流水线的BIST设计与实现
高速多板系统信号完整性建模与仿真技术研究
0.18μm CMOS军品级标准单元库的设计
集成芯片测试及PCU06ESP的测试研究
系统级芯片的可测性设计研究
IC卡预付费远传式仪表
VLSI中互连线工艺变化的若干问题研究
医保系统中IC卡的安全应用设计
电路故障诊断可测性设计及低功耗测试研究
可测试性设计技术及应用研究
微流控分析芯片的制作及流控特性研究
数字化芯片微阵列点样实验及稳定性研究
半自动弯针机的设计与实现--用于悬臂式环氧树脂探针卡的制造
IC生产车间治工具存取管理控制系统的设计与实现
IC封装中的寄生参数的研究
中小规模集成电路测试方法的分析与仿真实现
基于高性能非晶带材和磁芯封装的研究
SiC半导体表面处理技术研究
两种CMOS串行通信接口芯片的设计
基于March C-算法的SRAM测试设计与实现
电子标签卷烟分拣系统的仿真与优化
基于PCI总线的多功能卡的设计与实现
面向SOC的UART及DMA控制器IP软核的设计
基于EAD技术的MCS-51IP核设计及其扩展研究
基于VHDL语言的8051IP核的设计与验证研究
基于散射光信号分形的亚微米及纳米颗粒测量技术研究
用SpecmanE进行复杂协议处理芯片的自动化功能验证
硅底表面单粒子光散射研究
金属互连电迁移噪声分形表征参量研究
智能IC卡的设计与实现
基于SoC的IP软核设计与验证
基于CDV的随机测试技术
SATA内建自测试的电路设计与实现
异步多时钟域系统的同步设计研究
存储测试专用集成电路成测技术研究
MEMS应力测试研究
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