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一般性问题
CPU智能卡记次消费系统设计与实现
RS-485通信接口芯片的IC设计与实现
微流控芯片连续电泳分离稳定性研究
基于LTCC内埋式元件设计与建模研究
面向45nm铜互连及铜接触工艺的超薄扩散阻挡层研究
深亚微米集成电路的低功耗设计
交替移相掩模技术的版图优化方法研究
非接触IC卡接口电路的实现与设计
65nm NOR Flash Memory工艺下的耐高压电源轨ESD保护电路的设计与实现
低成本倒装芯片封装策略
二维SIMD结构的编译优化与功耗研究
BGA封装器件焊球剪切实验及模拟研究
钨的淀积和钨刻蚀残留的改善
部分绝缘键合SOI新结构及应用基础研究
基于LAKER和HSPICE软件的电源管理芯片设计
基于GSTE验证的细化问题的研究
毫米波LTCC电路设计技术研究
数字IC自动测试设备关键技术研究
一种优化PSM控制模式电路设计及流片测试
电流型白光LED驱动芯片设计与电路优化
基于EPC Gen2协议的超高频RFID技术研究
基于Leon3处理器SoC低功耗设计研究
时域有限差分法在信号完整性中的应用
基于FPGA的RFID读写器通讯虚拟检测系统的设计
ISO/IEC15693协议电子标签读写器中频信号处理模块设计
基于IP软核的IC设计
基于多扫描链的集成电路内建自测试方法研究
基于测试源划分的系统芯片测试数据压缩方法研究
接近式光刻仿真研究
高效率的微器件自动装配技术研究
基于智能卡技术的安全应用研究
基于智能卡的认证与隐私保护协议研究
具有SD/MMC接口的智能卡的实时操作方法的研究和应用
基于ARM9核处理器的存储卡操作系统的研究实现及电力线上网流量控制软件设计
3G手机卡USAT功能测试
SD接口的智能安全卡的研究
SIM技术体系和业务研究
USB协议在智能卡上的多应用研究
基于员工智能卡的集中认证管理系统研究与应用
面向数字系统的确定性自测试与延迟故障测试
非曼哈顿互连结构下的布图规划算法研究
基于两级扫描结构路径延迟故障的低功耗测试
可测性设计优化方案与片上网络可测性设计研究
VLSI扫描测试中的低功耗测试方法研究
PC/SC兼容的虚拟智能卡系统及加密服务组件的研究和实现
基于侧墙工艺的纳机电结构并行加工技术研究
LC～2MOS工艺中关键器件研究
一种低精度光刻扫描器的研究
有损均匀传输线的时域有限差分法研究
均匀传输线的实验研究
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