首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--一般性问题论文--制造工艺论文

VLSI中互连线工艺变化的若干问题研究

摘要第1-7页
Abstract第7-9页
目录第9-11页
1 绪论第11-28页
   ·选题背景与意义第11-12页
   ·互连线的工艺变化问题第12-16页
     ·互连线分布参数系统第12-14页
     ·数学建模与分析第14-15页
     ·工艺变化问题第15-16页
   ·互连线工艺变化问题的研究现状第16-25页
     ·确定性模型的研究现状第17-19页
     ·工艺变化问题的研究现状第19-25页
   ·论文组织结构第25-26页
   ·主要工作与创新点第26-28页
2 工艺变化下互连线电容参数提取第28-53页
   ·场区解法第28-40页
     ·静电场基本解法第28-30页
     ·有限元法第30-37页
     ·有限差分法第37-38页
     ·测度不变方程法第38-39页
     ·实验分析第39-40页
   ·角点奇异性处理方法第40-47页
     ·角点奇异性问题第40-41页
     ·邓肯校正方法第41-43页
     ·新的角点奇异性处理方法第43-46页
     ·数值计算第46-47页
   ·导体尺寸变化时电容参数提取第47-51页
     ·导体尺寸变化时的网格剖分问题第47页
     ·非均匀网格方法第47-49页
     ·数值计算第49-51页
   ·本章小节第51-53页
3 工艺变化下互连线的时域响应分析第53-70页
   ·互连线随机模型第53-55页
   ·瞬态响应第55-62页
     ·瞬态响应数值求解第56页
     ·偏度-峰度检验第56-57页
     ·实验分析第57-62页
   ·正弦稳态响应第62-69页
     ·理论分析第62-65页
     ·实验分析第65-69页
   ·本章小节第69-70页
4 工艺变化下互连线的延迟度量分析第70-83页
   ·互连线电阻与电容参数第70-73页
   ·互连线延迟分析第73-77页
     ·互连延迟估计式第73页
     ·一般工艺变化下的分析方法第73-76页
     ·线宽参数变化下的延迟分析第76-77页
   ·实验分析第77-81页
   ·本章小节第81-83页
5 互连线工艺变化的空间相关性第83-104页
   ·工艺变化的分解与提取第83-88页
     ·同构随机场第85-87页
     ·非同构随机场第87-88页
   ·连续分布参数模型分析第88-96页
     ·卡亨南-洛伊夫展开(Karhunen-Loeve Expansion)第88-91页
     ·分布参数随机模型分析第91-96页
   ·ABCD矩阵分析第96-103页
     ·积分方程法第96-100页
     ·级连方法第100-103页
   ·本章小节第103-104页
6 结束语第104-106页
致谢第106-107页
参考文献第107-119页
附录A:博士在读期间发表和在审的论文第119页

论文共119页,点击 下载论文
上一篇:韩国语引用句与汉语引用句的对比
下一篇:玉米ω-6多不饱和脂肪酸提取及应用的研究