组合电路SET若干效应及软错误率分析
| 摘要 | 第1-10页 |
| ABSTRACT | 第10-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-25页 |
| ·课题研究背景 | 第11-18页 |
| ·辐射环境的特点 | 第11-14页 |
| ·辐照对集成电路的影响 | 第14-16页 |
| ·SET 效应及本课题的研究意义 | 第16-18页 |
| ·国内外相关研究及不足 | 第18-24页 |
| ·国内外相关研究 | 第18-24页 |
| ·相关研究存在的不足 | 第24页 |
| ·本文研究内容与结构 | 第24-25页 |
| ·本文的主要内容 | 第24-25页 |
| ·本文的组织结构 | 第25页 |
| 第二章 P 阱接触对SET 脉冲产生的影响 | 第25-43页 |
| ·引言 | 第27页 |
| ·器件级建模 | 第27-28页 |
| ·P 阱接触对N 阱电势的调制作用 | 第28-35页 |
| ·模拟环境设置 | 第28-29页 |
| ·模拟结果与讨论 | 第29-35页 |
| ·P 阱接触对SET 脉冲产生的影响 | 第35-39页 |
| ·模拟环境与设置 | 第35页 |
| ·模拟结果与讨论 | 第35-39页 |
| ·P 阱接触对SET 产生影响的试验验证 | 第39-41页 |
| ·本章小结 | 第41-43页 |
| 第三章 组合电路中SET 的传播及模拟 | 第43-52页 |
| ·引言 | 第43页 |
| ·重汇聚及对SET 脉冲传播的影响 | 第43-45页 |
| ·SET 脉冲传播的混合模拟方法 | 第45-49页 |
| ·门级网表解析 | 第46-47页 |
| ·混合模拟方法 | 第47-49页 |
| ·模拟结果与HSPICE 比较 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-52页 |
| 第四章 基于混合模拟的软错误率分析工具 | 第52-58页 |
| ·引言 | 第52页 |
| ·组合电路软错误率分析工具实现 | 第52-54页 |
| ·模拟结果及分析 | 第54-57页 |
| ·模拟结果与SPICE 比较 | 第54-55页 |
| ·模拟结果与SERA 比较 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 总结与展望 | 第58-60页 |
| ·本文所作的工作 | 第58-59页 |
| ·下一步的研究工作 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-67页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第67页 |
