纳米工艺集成电路的统计可靠性分析以及并行优化算法
| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-10页 |
| 第1章 引言 | 第10-23页 |
| ·研究动机 | 第10-12页 |
| ·工艺参数扰动下的电路可靠性问题 | 第12-17页 |
| ·工艺参数扰动以及以成品率为中心的集成电路设计 | 第12-14页 |
| ·电路的可靠性 | 第14-16页 |
| ·工艺参数扰动下的电路可靠性分析 | 第16页 |
| ·国际参数扰动下的电路可靠性研究现状 | 第16-17页 |
| ·多核革命对集成电路辅助设计的影响 | 第17-20页 |
| ·多核革命 | 第17-19页 |
| ·集成电路辅助设计并行化研究现状 | 第19-20页 |
| ·本文研究的研究内容和主要贡献 | 第20-21页 |
| ·本论文组织结构 | 第21-23页 |
| 第2章 参数化NBTI模型回顾 | 第23-29页 |
| ·NBTI的物理机理 | 第23-24页 |
| ·动态NBTI效应 | 第24-27页 |
| ·远期NBTI动态模型 | 第27-29页 |
| 第3章 工艺参数扰动下电路的统计可靠性分析 | 第29-61页 |
| ·工艺参数扰动下电路的统计可靠性分析总体框架 | 第29-31页 |
| ·统计电路门延迟老化模型 | 第31-39页 |
| ·参数化的NBTI门延迟模型 | 第31-33页 |
| ·老化模型中对于工艺参数扰动的建模 | 第33-37页 |
| ·门延迟老化基准模型建立流程 | 第37-39页 |
| ·电路统计可靠性分析 | 第39-50页 |
| ·对于门单元NBTI老化效应的计算 | 第40页 |
| ·等效老化时间 | 第40-43页 |
| ·考虑电路老化的统计时序分析 | 第43-48页 |
| ·快速电路裁减 | 第48-50页 |
| ·基于关键度和敏感度的电路元件可靠性影响分析 | 第50-55页 |
| ·电路元件的关键度和敏感度 | 第51-55页 |
| ·关键度和敏感度指导的统计可靠性优化 | 第55页 |
| ·数值结果 | 第55-60页 |
| ·统计老化模型验证 | 第55-56页 |
| ·参数扰动下NBTI效应造成的电路时延分布变化 | 第56-58页 |
| ·电路快速裁剪对统计分析性能的提升 | 第58-59页 |
| ·电路统计可靠性的优化 | 第59-60页 |
| ·总结 | 第60-61页 |
| 第4章 最小代价流及其在CAD优化中的应用 | 第61-69页 |
| ·最小代价流及其对偶问题 | 第61-64页 |
| ·多电压设计中的电压分配算法的应用 | 第64-69页 |
| ·整数凸代价流问题 | 第65-68页 |
| ·转化为最小代价流求解 | 第68页 |
| ·结果转换 | 第68-69页 |
| 第5章 多核处理器并行最小代价流算法 | 第69-99页 |
| ·多核并行计算编程模型概述 | 第69-72页 |
| ·非确定性事务模型 | 第72-77页 |
| ·非确定性事务模型综述 | 第72-73页 |
| ·基于非确定性事务模型的最小代价流算法 | 第73-77页 |
| ·基于非确定性事务模型算法的多核程序框架 | 第77-84页 |
| ·总体框架 | 第77-81页 |
| ·原子化执行保证 | 第81-82页 |
| ·受保护命令的组合执行 | 第82-83页 |
| ·全局同步机制 | 第83-84页 |
| ·三种运行时调度方式以及其性能分析 | 第84-90页 |
| ·静态划分方法 | 第84-86页 |
| ·中央调度方法 | 第86-88页 |
| ·分布式调度方法 | 第88-89页 |
| ·三种方法的比较和性能分析 | 第89-90页 |
| ·针对CAD优化应用的性能改进方法 | 第90-93页 |
| ·数值结果 | 第93-98页 |
| ·单核程序额外开销比较 | 第93-95页 |
| ·节点访问冲突改进 | 第95-96页 |
| ·并行加速可延伸性比较 | 第96-98页 |
| ·总结 | 第98-99页 |
| 第6章 总结与展望 | 第99-102页 |
| ·总结 | 第99-100页 |
| ·工作展望 | 第100-102页 |
| 参考文献 | 第102-110页 |
| 在学期间的研究成果及发表的论文 | 第110-111页 |
| 致谢 | 第111-112页 |
