| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-15页 |
| ·集成电路测试仪的概述 | 第8-10页 |
| ·集成电路测试仪的定义 | 第8-9页 |
| ·集成电路测试仪的分类 | 第9-10页 |
| ·国内外集成电路测试技术的发展现状 | 第10-12页 |
| ·国外集成电路测试技术的发展情况 | 第11页 |
| ·国内集成电路测试技术的发展情况 | 第11-12页 |
| ·本课题的研究背景 | 第12-13页 |
| ·研究课题的来源及其意义 | 第13页 |
| ·课题的研究内容及论文的结构 | 第13-15页 |
| 第二章 模拟 IC 直流参数测试的方案设计与原理分析 | 第15-33页 |
| ·测试仪的工作原理分析 | 第15-17页 |
| ·本测试仪的性能分析和整体结构设计方案 | 第17-21页 |
| ·本测试仪的性能分析 | 第17页 |
| ·测试仪整体结构的介绍 | 第17-21页 |
| ·PAB 板的性能分析和设计方案 | 第21-32页 |
| ·PAB 板的性能要求 | 第21-22页 |
| ·PAB 板的设计方案 | 第22-25页 |
| ·PMU 单元的工作原理分析 | 第25-32页 |
| ·施加及测量电压/电流原理 | 第26-27页 |
| ·PMU 电路的补偿电路 | 第27-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 硬件电路的设计 | 第33-54页 |
| ·总线电路的设计 | 第34-37页 |
| ·FPGA 的电路设计 | 第37-39页 |
| ·FPGA 的电源电路 | 第37-38页 |
| ·FPGA 的配置电路 | 第38-39页 |
| ·FPGA 上电复位电路的设计 | 第39页 |
| ·PMU 电路的设计 | 第39-50页 |
| ·AD5522 芯片的应用 | 第40-45页 |
| ·功率放大电路的设计 | 第45-47页 |
| ·电流/电压检测电路的设计 | 第47-49页 |
| ·PAB 的PMU 电路的设计 | 第49-50页 |
| ·量程切换电路及其驱动电路的设计 | 第50-51页 |
| ·ADC 电路的设计 | 第51-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第四章 控制逻辑和驱动程序的设计 | 第54-71页 |
| ·PAB 电路控制逻辑的设计 | 第54-61页 |
| ·系统总线控制逻辑的设计 | 第55页 |
| ·AD5522 控制逻辑电路 | 第55-57页 |
| ·ADC 控制逻辑电路 | 第57-59页 |
| ·T 方式读取控制逻辑 | 第59-60页 |
| ·电流量程控制逻辑 | 第60页 |
| ·电压量程控制逻辑 | 第60-61页 |
| ·PMU 施加开关控制逻辑 | 第61页 |
| ·驱动程序的编写 | 第61-70页 |
| ·测试仪的软件系统 | 第61-63页 |
| ·测试板电路的控制字编写 | 第63-65页 |
| ·PAB 板的驱动程序的编写 | 第65-70页 |
| ·本章小节 | 第70-71页 |
| 第五章 系统调试及系统误差的分析和校准 | 第71-78页 |
| ·系统调试环境 | 第71-72页 |
| ·误差分析 | 第72-74页 |
| ·误差校准 | 第74-77页 |
| ·电路芯片的内部校准 | 第74-75页 |
| ·软件方法校准 | 第75-77页 |
| ·本章小结 | 第77-78页 |
| 第六章 总结及展望 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-82页 |
| 攻读硕士期间取得的研究成果 | 第82-83页 |