首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--一般性问题论文--可靠性及例行试验论文

基于IC产品最优分档的效益协调优化模型及求解研究

中文摘要第1-6页
英文摘要第6-9页
第一章 绪论第9-12页
 1.1 集成电路参数成品率的研究与现状第9-11页
 1.2 本论文主要研究内容和安排第11-12页
第二章 集成电路成品率优化设计的数学基础第12-22页
 2.1 参数成品率中的数学问题第12-14页
  2.1.1 确定性和统计性最优化方法第12页
  2.1.2 影响参数成品率的因素及成品率表示第12-13页
  2.1.3 参数成品率中的统计最优化第13页
  2.1.4 集成电路中的参数统计性第13-14页
 2.2 Powell方向加速法第14-18页
 2.3 均匀设计与均匀设计表第18-20页
 2.4 本章小结第20-22页
第三章 集成电路参数成品率模型与设计方法第22-28页
 3.1 参数成品率的中心值设计模型第22-24页
  3.1.1 参数成品率的定义第22-23页
  3.1.2 参数成品率的求解第23页
  3.1.3 参数成品率估计中的策略和技巧第23-24页
  3.1.4 中心值设计第24页
 3.2 等效效益优化模型第24-27页
 3.3 现有参数成品率模型的局限第27页
 3.4 本章小结第27-28页
第四章 集成电路分层效益优化模型与算法第28-42页
 4.1 连续价格函数的构造第28-35页
 4.2 价格系数函数的离散化及电路产品的分档第35-36页
 4.3 基于最优分档的效益协调优化模型第36-37页
 4.4 模型的求解第37-41页
  4.4.1 模型的简化及误差估计第37-38页
  4.4.2 模型的求解第38-41页
   4.4.2.1 抽样策略第39页
   4.4.2.2 约束条件处理第39-40页
   4.4.2.3 求解模型的具体算法步骤第40-41页
 4.5 本章小结第41-42页
第五章 集成电路分档成品率优化设计实例分析第42-54页
 5.1 二输入MOSFET与非门电路分析第42-45页
 5.2 测试函数的模拟第45-46页
 5.3 实例运行结果第46页
 5.4 本章小结第46-54页
第六章 结论第54-56页
致谢第56-57页
参考文献第57-60页
附录:攻读硕士期间的研究成果及参加科研项目第60页

论文共60页,点击 下载论文
上一篇:微电子组装用导电胶长期可靠性的研究
下一篇:集成电路软故障与成品率相关技术研究