基于IC产品最优分档的效益协调优化模型及求解研究
中文摘要 | 第1-6页 |
英文摘要 | 第6-9页 |
第一章 绪论 | 第9-12页 |
1.1 集成电路参数成品率的研究与现状 | 第9-11页 |
1.2 本论文主要研究内容和安排 | 第11-12页 |
第二章 集成电路成品率优化设计的数学基础 | 第12-22页 |
2.1 参数成品率中的数学问题 | 第12-14页 |
2.1.1 确定性和统计性最优化方法 | 第12页 |
2.1.2 影响参数成品率的因素及成品率表示 | 第12-13页 |
2.1.3 参数成品率中的统计最优化 | 第13页 |
2.1.4 集成电路中的参数统计性 | 第13-14页 |
2.2 Powell方向加速法 | 第14-18页 |
2.3 均匀设计与均匀设计表 | 第18-20页 |
2.4 本章小结 | 第20-22页 |
第三章 集成电路参数成品率模型与设计方法 | 第22-28页 |
3.1 参数成品率的中心值设计模型 | 第22-24页 |
3.1.1 参数成品率的定义 | 第22-23页 |
3.1.2 参数成品率的求解 | 第23页 |
3.1.3 参数成品率估计中的策略和技巧 | 第23-24页 |
3.1.4 中心值设计 | 第24页 |
3.2 等效效益优化模型 | 第24-27页 |
3.3 现有参数成品率模型的局限 | 第27页 |
3.4 本章小结 | 第27-28页 |
第四章 集成电路分层效益优化模型与算法 | 第28-42页 |
4.1 连续价格函数的构造 | 第28-35页 |
4.2 价格系数函数的离散化及电路产品的分档 | 第35-36页 |
4.3 基于最优分档的效益协调优化模型 | 第36-37页 |
4.4 模型的求解 | 第37-41页 |
4.4.1 模型的简化及误差估计 | 第37-38页 |
4.4.2 模型的求解 | 第38-41页 |
4.4.2.1 抽样策略 | 第39页 |
4.4.2.2 约束条件处理 | 第39-40页 |
4.4.2.3 求解模型的具体算法步骤 | 第40-41页 |
4.5 本章小结 | 第41-42页 |
第五章 集成电路分档成品率优化设计实例分析 | 第42-54页 |
5.1 二输入MOSFET与非门电路分析 | 第42-45页 |
5.2 测试函数的模拟 | 第45-46页 |
5.3 实例运行结果 | 第46页 |
5.4 本章小结 | 第46-54页 |
第六章 结论 | 第54-56页 |
致谢 | 第56-57页 |
参考文献 | 第57-60页 |
附录:攻读硕士期间的研究成果及参加科研项目 | 第60页 |