数字集成电路软错误敏感性分析与可靠性优化技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-15页 |
| 第1章 绪论 | 第15-34页 |
| ·课题背景及意义 | 第15-16页 |
| ·软错误的物理模型 | 第16-19页 |
| ·粒子辐射的来源 | 第16-17页 |
| ·软错误的产生机理 | 第17-19页 |
| ·容软错误电路设计需解决的问题 | 第19-20页 |
| ·国内外研究现状 | 第20-31页 |
| ·软错误敏感性评估 | 第20-28页 |
| ·容软错误优化与加固方法 | 第28-31页 |
| ·论文主要研究内容 | 第31-32页 |
| ·论文结构 | 第32-34页 |
| 第2章 基于高层次仿真故障注入的软错误敏感性评估 | 第34-56页 |
| ·引言 | 第34-35页 |
| ·软错误的故障模型 | 第35页 |
| ·仿真故障注入系统的理论模型 | 第35-39页 |
| ·故障集F | 第36-37页 |
| ·负载集W | 第37页 |
| ·读回集R | 第37-38页 |
| ·度量集M | 第38页 |
| ·主控函数Ctrl | 第38-39页 |
| ·前处理函数PreProc | 第39页 |
| ·后处理函数PostProc | 第39页 |
| ·基于语法分析技术的故障注入目标提取 | 第39-44页 |
| ·仿真故障注入实验的加速技术 | 第44-46页 |
| ·Ctrl 中的检查点恢复策略 | 第44-45页 |
| ·PreProc 中的分层抽样策略 | 第45-46页 |
| ·高层次仿真故障注入平台的构建 | 第46-49页 |
| ·实验结果及分析 | 第49-55页 |
| ·软错误敏感性评价标准 | 第49-52页 |
| ·实验结果 | 第52-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第3章 基于电路级仿真故障注入的软错误敏感性评估 | 第56-74页 |
| ·引言 | 第56-57页 |
| ·电路级软错误建模 | 第57-58页 |
| ·软错误敏感性的评估方法 | 第58-61页 |
| ·故障注入的自动化方法 | 第61-67页 |
| ·Spice 解析器的设计及实现 | 第62-65页 |
| ·软错误自动注入算法 | 第65-67页 |
| ·故障注入平台的设计 | 第67-68页 |
| ·实验结果及分析 | 第68-73页 |
| ·普通电路的注入实验 | 第68-70页 |
| ·加固电路的注入实验 | 第70-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 第4章 基于解析模型的软错误率评估方法 | 第74-88页 |
| ·引言 | 第74页 |
| ·门级SER 的计算方法 | 第74-78页 |
| ·软错误的表征与传播 | 第74-75页 |
| ·软错误屏蔽概率计算 | 第75-77页 |
| ·SER 的计算 | 第77-78页 |
| ·SER 分析平台的设计 | 第78-84页 |
| ·门级网表的分析 | 第78-80页 |
| ·工艺库建模 | 第80-81页 |
| ·HSECT-ANLY 的实现 | 第81-84页 |
| ·实验结果及分析 | 第84-87页 |
| ·分析实验的设计 | 第84-85页 |
| ·结果分析 | 第85-87页 |
| ·本章小结 | 第87-88页 |
| 第5章 基于MOGA 的电路容软错误优化方法 | 第88-105页 |
| ·引言 | 第88页 |
| ·SER 优化问题的形式化 | 第88-91页 |
| ·MOGA 优化算法的设计 | 第91-98页 |
| ·算法结构 | 第91-96页 |
| ·染色体和遗传算子设计 | 第96-97页 |
| ·适应度评价函数设计 | 第97-98页 |
| ·实验结果及分析 | 第98-104页 |
| ·优化实验设计 | 第98-99页 |
| ·优化结果及分析 | 第99-102页 |
| ·优化算法的性能分析 | 第102-104页 |
| ·本章小结 | 第104-105页 |
| 结论 | 第105-108页 |
| 参考文献 | 第108-120页 |
| 攻读博士学位期间发表的学术论文 | 第120-122页 |
| 致谢 | 第122-123页 |
| 个人简历 | 第123页 |
