| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1．1 数字电路测试技术发展概况 | 第9-10页 |
| 1．2 电流测试技术发展概况 | 第10-13页 |
| 1．2．1 基本概念 | 第10-11页 |
| 1．2．2 静态电流测试 | 第11页 |
| 1．2．3 动态电流测试 | 第11-13页 |
| 1．3 本文的研究内容 | 第13-15页 |
| 第二章 基于布尔过程的波形模拟器 | 第15-26页 |
| 2．1 布尔过程论 | 第15-16页 |
| 2．2 基于布尔过程的波形模拟器 | 第16-18页 |
| 2．2．1 波形表示 | 第16页 |
| 2．2．2 波形模拟的主要算法 | 第16-18页 |
| 2．2．2．1 波形模拟程序基本算法 | 第16-18页 |
| 2．2．2．2 逻辑门的模拟 | 第18页 |
| 2．3 对波形模拟器的修改 | 第18-25页 |
| 2．3．1 故障模拟 | 第18-22页 |
| 2．3．1．1 固定型故障 | 第19页 |
| 2．3．1．2 开路故障 | 第19-22页 |
| 2．3．1．3 延时故障 | 第22页 |
| 2．3．2 波形模拟器程序的修改 | 第22-25页 |
| 2．3．2．1 惯性延时的模拟 | 第23页 |
| 2．3．2．2 波形模拟器程序内存分配使用的改进 | 第23-25页 |
| 2．3．2．3 增加对电路中跳变的统计分析功能 | 第25页 |
| 2．4 小结 | 第25-26页 |
| 第三章 CMOS数字集成电路动态电流的SPICE模拟 | 第26-37页 |
| 3．1 SPICE模拟软件 | 第26-27页 |
| 3．2 PSPICE模拟软件功能介绍 | 第27-28页 |
| 3．3 使用PSPICE前的一些预备工作 | 第28-36页 |
| 3．3．1 逻辑门子电路模块设计 | 第28-29页 |
| 3．3．2 组合电路的模拟 | 第29-32页 |
| 3．3．3 动态电流的观测 | 第32-33页 |
| 3．3．4 用PSPICE对故障电路进行模拟 | 第33-36页 |
| 3．3．4．1 开路故障 | 第33-35页 |
| 3．3．4．2 延时故障 | 第35页 |
| 3．3．4．3 故障电路的模拟 | 第35-36页 |
| 3．4 小结 | 第36-37页 |
| 第四章 CMOS数字集成电路动态电流特性分析 | 第37-47页 |
| 4．1 引言 | 第37页 |
| 4．2 平均动态电流的概念 | 第37-38页 |
| 4．3 逻辑门的平均动态电流 | 第38-39页 |
| 4．4 平均动态电流与逻辑跳变 | 第39-41页 |
| 4．5 平均动态电流与输入波形陡度的关系 | 第41-42页 |
| 4．6 平均动态电流与负载关系 | 第42-43页 |
| 4．7 平均动态电流与逻辑跳变之间的关系 | 第43-46页 |
| 4．8 小结 | 第46-47页 |
| 第五章 基于布尔过程的动态电流测试产生方法 | 第47-55页 |
| 5．1 一种基于布尔过程的动态电流测试产生方法 | 第47-48页 |
| 5．2 对基于布尔过程的动态电流测试产生方法的修改和实现 | 第48-54页 |
| 5．2．1 对电路中的逻辑跳变加权 | 第48页 |
| 5．2．2 用波形模拟器统计电路中加权跳变数 | 第48-49页 |
| 5．2．3 修改后的动态电流测试向量产生算法 | 第49页 |
| 5．2．4 测试向量产生的实现 | 第49-54页 |
| 5．2．4．1 测试向量对的使用 | 第49-50页 |
| 5．2．4．2 随机移动-局部搜索方法 | 第50页 |
| 5．2．4．3 电路的划分 | 第50-54页 |
| 5．3 小结 | 第54-55页 |
| 第六章 实验结果及分析 | 第55-60页 |
| 6．1 开路故障的测试产生实验结果 | 第55-56页 |
| 6．2 开路故障测试向量PSPICE模拟结果 | 第56-57页 |
| 6．3 延时故障实验 | 第57-59页 |
| 6．4 小结 | 第59-60页 |
| 第七章 结束语 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 附录A 攻读学位期间发表论文目录 | 第66页 |