| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| ·串行总线概述 | 第9-10页 |
| ·MT-6000 系统级模拟与验证选题背景、意义及应用价值 | 第10-11页 |
| ·本文的主要任务和创新点 | 第11页 |
| ·论文章节安排 | 第11-13页 |
| 第二章 芯片可测性技术理论以及离散事件模拟理论 | 第13-24页 |
| ·系统模型以及数字电路测试的基础理论 | 第13-17页 |
| ·系统模型的基本理论 | 第13-14页 |
| ·数字电路测试的基本理论 | 第14-17页 |
| ·常用的可测性技术 | 第17-19页 |
| ·离散事件模拟以及数字电路测试原理 | 第19-23页 |
| ·离散事件模拟的基本概念 | 第19-21页 |
| ·离散事件模拟的建模策略 | 第21-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 MT-6000 系统级建模和模拟方法研究 | 第24-34页 |
| ·MT-6000 系统的建模策略 | 第24-25页 |
| ·MT-6000 内建自测试可测性设计算法研究 | 第25-28页 |
| ·MT-6000 的 FIFO 部件内建自测试方法以及故障覆盖率 | 第25-26页 |
| ·发送串行总线的自测试通路 | 第26-28页 |
| ·MT-6000 系统级建模理论研究 | 第28-33页 |
| ·基于离散事件的系统建模模型以及模型的基本要素 | 第28-29页 |
| ·MT-6000 系统建模流程或算法 | 第29-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第四章 MT-6000 系统级模拟与验证实验结果分析 | 第34-43页 |
| ·MT-6000 的内建自测试的实验结果分析 | 第34-35页 |
| ·MT-6000 内建自测试的过程 | 第34页 |
| ·MT-6000 内建自测试结果及分析 | 第34-35页 |
| ·PIM 模式下的部分功能模拟 | 第35-42页 |
| ·PIM 模式下的时序特性分析 | 第35-40页 |
| ·PIM 模式下的 busy 功能的模拟结果分析 | 第40-41页 |
| ·PIM 模式下的 receive 功能的模拟结果波形 | 第41-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 总结与展望 | 第43-44页 |
| 参考文献 | 第44-47页 |
| 致谢 | 第47-48页 |
| 附录 A 攻读学位期间发表论文目录 | 第48-49页 |
| 摘要 | 第49-53页 |
| Abstract | 第53-56页 |
