当前位置:
首页
--
工业技术
--
无线电电子学、电信技术
--
半导体技术
--
场效应器件
--
电荷耦合器件
CCD显微检测系统误差分析及补偿
影响CCD传递函数因素的综合分析
数字全息显微成像的理论和实验研究
多抽头TDI可见光CCD成像系统的设计与研究
基于ARM和LINUX的嵌入式CCD相机采集系统研究
CCD交汇光靶中的关键技术研究
利用图像融合提高CCD的动态范围进行激光光斑检测
高分辨率全帧CCD驱动电路技术研究
CCD器件的特性评价及其驱动和数据采集电路设计
CCD细分技术及其应用研究
可见光CCD的激光辐照效应实验研究
高分辨力长线阵CCD驱动与信号提取技术研究
用于光锥与CCD耦合系统的基于算子融合的自动对焦技术
机载三线阵CCD传感器成像机理及影像模拟研究
动态变频正弦光栅测量CCD调制传递函数处理系统的研究
三沟道BCCD在近红外光区光电特性的数值模拟
CCD挠度测量系统的研究
激光辐照可见光面阵Si-CCD探测器实验研究
一种双CCD测角仪的参数检测方法研究
衍射光学元件制作及其在CCD相机光学系统中的应用
宽光谱光源对可见光CCD的干扰效应研究
基于VR的CCD精确标定的研究
EMCCD与USB的整合
线阵CCD通用驱动控制技术开发
面阵CCD成像驱动及外围电路的设计与实现
高速线阵CCD扭振测量方法研究
用于三维复合精细成像的双CCD交会测量技术研究
基于噪声特性的电子倍增CCD最佳工作模式研究
电子倍增CCD的倍增机制及其在光子计数成像的应用
CCD类成像器件的噪声研究
基于FPGA的面阵CCD驱动传输电路设计
线阵CCD参数测试方法研究与系统的建立
线阵CCD的读出系统研究
低照度CCD驱动及信号数字化电路的设计与实现
线阵CCD数据采集电路研究
CCD成像电子学控制与采集系统的设计
CCD成像电子学系统自动曝光和自动增益研究
科学级CCD相机研究及电气电路设计
基于FPGA的CCD探测系统
同幅双速跟踪成像CCD相机控制软件的研究
基于FPGA的线阵CCD图像测量系统研究
基于线阵CCD的位移检测技术研究
基于摄像机的CCD电路噪声模型的仿真与测试的研究
面阵CCD图像采集处理系统的设计与实现
基于CCD的星体识别算法及应用研究
基于TMS320DM642的多线阵CCD数据采集系统
线阵CCD液位测量及光路设计研究
面阵CCD在脉冲激光辐照下的损伤研究
电荷耦合器件质子辐照损伤实验及数值模拟研究
CCD MOS表界面结构特性与工艺及环境应力的关系研究
上一页
[1]
[2]
[3]
[4]
下一页