| 摘要 | 第1-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 前言 | 第10-12页 |
| 第二章 CCD器件的基本工作原理 | 第12-22页 |
| §2.1 光电二极管的基本工作原理 | 第12-13页 |
| §2.2 CCD移位寄存器 | 第13-22页 |
| 1.电荷存储 | 第14-15页 |
| 2.电荷耦合 | 第15-16页 |
| 3.CCD的电极结构 | 第16-18页 |
| 4.电荷的注入 | 第18-20页 |
| 5.电荷的检测(输出方式) | 第20-22页 |
| 第三章 连续激光辐照可见光SI-CCD探测器的实验研究 | 第22-35页 |
| §3.1 实验内容及器件的参数 | 第22-24页 |
| §3.2 激光辐照可见光CCD探测器饱和效应的实验研究 | 第24-32页 |
| 1.信号检测与图像采集 | 第24-26页 |
| 2.波长532nm激光辐照CCD的饱和效应实验研究 | 第26-28页 |
| 3.波长808nm激光辐照CCD的饱和效应实验研究 | 第28-29页 |
| 4.波长1064nm激光辐照CCD的饱和效应实验研究 | 第29-31页 |
| 5.波长1319nm激光辐照CCD的实验研究 | 第31-32页 |
| §3.3 激光器预脉冲对CCD器件的破坏 | 第32-34页 |
| §3.4 小结 | 第34-35页 |
| 第四章 脉冲激光辐照CCD探测器的实验研究 | 第35-42页 |
| §4.1 实验装置及研究内容 | 第35-36页 |
| §4.2 脉冲激光辐照CCD探测器的破坏效应实验研究 | 第36-40页 |
| 1.脉冲激光破坏CCD探测器的实验结果 | 第36-38页 |
| 2.实验结果讨论 | 第38-40页 |
| §4.3 场饱和现象 | 第40-41页 |
| §4.4 小结 | 第41-42页 |
| 第五章 CW 3800NM激光对透可见光波段滤光片的破坏实验研究 | 第42-46页 |
| §5.1 实验结果 | 第43-44页 |
| 1.试验装置 | 第43页 |
| 2.实验结果 | 第43-44页 |
| §5.2 结果分析 | 第44-46页 |
| 总结 | 第46-48页 |
| 参考文献 | 第48-50页 |
| 致谢 | 第50-51页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第51页 |
