线阵CCD参数测试方法研究与系统的建立
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| ·CCD 的发展应用 | 第10-11页 |
| ·CCD 参数测试系统的研究现状 | 第11-13页 |
| ·本文研究内容及意义 | 第13-14页 |
| ·硬件设计部分 | 第13-14页 |
| ·软件设计部分 | 第14页 |
| ·研究意义 | 第14页 |
| ·本文的结构安排 | 第14-16页 |
| 第二章 CCD 工作原理及其参数测试方法分析 | 第16-31页 |
| ·CCD 工作原理 | 第16-22页 |
| ·电荷的产生 | 第16-17页 |
| ·电荷的存储 | 第17-18页 |
| ·电荷的转移 | 第18-20页 |
| ·电荷的输出 | 第20-21页 |
| ·CCD 的分类 | 第21-22页 |
| ·CCD 参数测试方法分析 | 第22-31页 |
| ·转移效率η和转移损失率ε | 第22-23页 |
| ·响应度 | 第23-25页 |
| ·光谱响应特性 | 第25页 |
| ·非线性 | 第25-26页 |
| ·动态范围 | 第26-27页 |
| ·暗电流 | 第27页 |
| ·饱和电压和饱和曝光量 | 第27-28页 |
| ·抗晕性能 | 第28-29页 |
| ·频帧 | 第29页 |
| ·分辨率 | 第29页 |
| ·光响应度非均匀性 | 第29-31页 |
| 第三章 参数测试系统的硬件设计 | 第31-61页 |
| ·测试光源及其辅助设备 | 第31-35页 |
| ·测试光源的驱动 | 第32-34页 |
| ·测试光路部分 | 第34-35页 |
| ·测试用CCD 器件介绍 | 第35-38页 |
| ·KLI-2113 芯片特点 | 第36页 |
| ·KLI-2113 的工作过程 | 第36-37页 |
| ·KLI-2113 的引脚分布 | 第37-38页 |
| ·驱动电路的设计 | 第38-46页 |
| ·驱动时序分析 | 第38-41页 |
| ·驱动电路实现 | 第41-46页 |
| ·模数转换 | 第46-51页 |
| ·CDS 相关双采样原理 | 第47-49页 |
| ·器件选择 | 第49-51页 |
| ·KLI-2113 前端数据采集设计 | 第51-52页 |
| ·传输方式设计 | 第52-57页 |
| ·传输方式选择 | 第52页 |
| ·U582.0 简介 | 第52-54页 |
| ·传输芯片介绍 | 第54-56页 |
| ·ISP1581 硬件设计 | 第56-57页 |
| ·PCB 的设计 | 第57-61页 |
| ·PCB 板叠层和走线设置 | 第57-58页 |
| ·PCB 设计规范 | 第58-61页 |
| 第四章 参数测试系统的软件设计 | 第61-70页 |
| ·EPM71605 的开发 | 第61-64页 |
| ·开发流程 | 第61-62页 |
| ·积分时间的设置程序 | 第62-63页 |
| ·驱动时序的软件驱动 | 第63-64页 |
| ·USB 传输软件部分 | 第64-68页 |
| ·特殊功能寄存器和ISP1581 端点的初始化 | 第65-66页 |
| ·DMA 寄存器的初始化 | 第66-68页 |
| ·参数测试系统应用程序 | 第68-70页 |
| 第五章 参数测试结果及分析 | 第70-83页 |
| ·虚拟示波器 | 第70-71页 |
| ·测试设备及环境要求 | 第71页 |
| ·测试设备 | 第71页 |
| ·测试环境要求 | 第71页 |
| ·系统调试 | 第71-72页 |
| ·CCD 特性参数测试 | 第72-83页 |
| ·光谱响应特性 | 第72-74页 |
| ·暗信号电压 | 第74-75页 |
| ·动态范围 | 第75页 |
| ·饱和电压 | 第75-76页 |
| ·非线性 | 第76-77页 |
| ·响应度 | 第77-78页 |
| ·光响应度非均匀性 | 第78页 |
| ·图像输出测试 | 第78-81页 |
| ·测试精度分析 | 第81-83页 |
| 第六章 结论 | 第83-84页 |
| 致谢 | 第84-85页 |
| 参考文献 | 第85-89页 |
| 在学期间的研究成果 | 第89-90页 |
| 附录一：CPLD 初始化程序 | 第90-95页 |
| 附录二：ISP1581 端点初始化程序 | 第95-99页 |
