CCD挠度测量系统的研究
第一章 绪 论 | 第1-14页 |
·测量技术发展概况 | 第9-10页 |
·CCD发展概况 | 第10-11页 |
·CCD器件的特点 | 第11页 |
·CCD技术的应用 | 第11-12页 |
·选题背景和研究内容 | 第12-14页 |
第二章 系统测量方案概述 | 第14-19页 |
·系统测量要求 | 第14页 |
·CCD器件测量光斑位置的工作原理[14, | 第14-15页 |
·激光-CCD方法测量桁架挠度原理 | 第15-16页 |
·改进的挠度测量方案 | 第16-17页 |
·CCD测量系统方案 | 第17-19页 |
第三章 CCD器件和激光器的选用 | 第19-30页 |
·电荷耦合器件(CCD)的基本结构和工作原理 | 第19-24页 |
·光电转换、储存 | 第19-20页 |
·电荷转移 | 第20-21页 |
·电荷的检测(输出方式) | 第21-23页 |
·CCD的结构 | 第23-24页 |
·CCD器件基本性能参数 | 第24-25页 |
·CCD器件的选择 | 第25-28页 |
·TCD132D基本结构 | 第26-28页 |
·TCD132D的主要性能参数 | 第28页 |
·激光器 | 第28-30页 |
·激光器的种类及应用 | 第28-29页 |
·激光器的选用 | 第29-30页 |
第四章 CCD驱动电路的设计 | 第30-40页 |
·线阵CCD时序脉冲电路产生的方法 | 第30-31页 |
·EPROM驱动方法 | 第30页 |
·单片机驱动方法 | 第30-31页 |
·专用IC驱动方法 | 第31页 |
·复杂可编程逻辑器件驱动方法 | 第31页 |
·通用数字电路驱动方法 | 第31页 |
·TCD132D驱动电路设计 | 第31-34页 |
·振荡脉冲产生电路 | 第33页 |
·ΦM产生电路 | 第33-34页 |
·ΦCCD产生电路 | 第34页 |
·ΦSH信号的产生 | 第34页 |
·CCD视频处理电路 | 第34-37页 |
·固定阈值法 | 第35页 |
·浮动阈值法 | 第35-36页 |
·微分法 | 第36-37页 |
·TCD132D视频处理电路设计 | 第37-40页 |
·前置电压跟随电路 | 第38页 |
·放大电路 | 第38页 |
·动态浮动阈值二值化电平的形成 | 第38-40页 |
第五章 单片机控制系统设计 | 第40-53页 |
·单片机控制系统构成 | 第40-41页 |
·MCS-51单片机内部结构 | 第41-42页 |
·单片机与外部存储器的连接 | 第42-43页 |
·8031与外部程序存储器的连接 | 第43页 |
·8031与外部数据存储器的连接 | 第43页 |
·“看门狗”电路 | 第43-45页 |
·光电隔离、信号转换部分 | 第45-47页 |
·光电隔离 | 第45-46页 |
·信号转换输入 | 第46-47页 |
·串口通讯线路设计 | 第47页 |
·激光器控制电路设计 | 第47-48页 |
·电源转换部分 | 第48-50页 |
·DC-DC模块电源的选择 | 第49-50页 |
·与电源转换部分相关的可靠性设计 | 第50页 |
·外部通信设计及CCD数据传输 | 第50-52页 |
·单片机与微机通讯 | 第50-51页 |
·CCD到单片机的数据传输 | 第51-52页 |
·其它抗干扰措施 | 第52-53页 |
第六章 单片机控制软件设计 | 第53-64页 |
·C语言与 | 第805153-54页 |
·C51程序结构 | 第54页 |
·单片机控制软件 | 第54-55页 |
·串行口通讯子程序 | 第55-60页 |
·串行口通讯概述 | 第55-56页 |
·可编程串行口资源 | 第56-58页 |
·串行口程序设计 | 第58-60页 |
·控制选择子程序 | 第60-61页 |
·采样子程序 | 第61-64页 |
第七章 系统误差分析和实验结果 | 第64-70页 |
·误差分析 | 第64-66页 |
·CCD器件的光电响应非均匀性和非线性 | 第64-65页 |
·CCD量化误差 | 第65页 |
·偶然误差 | 第65-66页 |
·实验内容 | 第66页 |
·测量方案 | 第66-67页 |
·线性度实验 | 第66页 |
·稳定性实验 | 第66-67页 |
·实验结果 | 第67-70页 |
·线性度实验 | 第67页 |
·稳定性实验 | 第67-70页 |
第八章 结 论 | 第70-72页 |
致 谢 | 第72-73页 |
参 考 文 献 | 第73-75页 |
附 录 一 | 第75-77页 |
附 录 二 | 第77页 |