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CCD挠度测量系统的研究

第一章 绪  论第1-14页
   ·测量技术发展概况第9-10页
   ·CCD发展概况第10-11页
   ·CCD器件的特点第11页
   ·CCD技术的应用第11-12页
   ·选题背景和研究内容第12-14页
第二章 系统测量方案概述第14-19页
   ·系统测量要求第14页
   ·CCD器件测量光斑位置的工作原理[14,第14-15页
   ·激光-CCD方法测量桁架挠度原理第15-16页
   ·改进的挠度测量方案第16-17页
   ·CCD测量系统方案第17-19页
第三章 CCD器件和激光器的选用第19-30页
   ·电荷耦合器件(CCD)的基本结构和工作原理第19-24页
     ·光电转换、储存第19-20页
     ·电荷转移第20-21页
     ·电荷的检测(输出方式)第21-23页
     ·CCD的结构第23-24页
   ·CCD器件基本性能参数第24-25页
   ·CCD器件的选择第25-28页
     ·TCD132D基本结构第26-28页
     ·TCD132D的主要性能参数第28页
   ·激光器第28-30页
     ·激光器的种类及应用第28-29页
     ·激光器的选用第29-30页
第四章 CCD驱动电路的设计第30-40页
   ·线阵CCD时序脉冲电路产生的方法第30-31页
     ·EPROM驱动方法第30页
     ·单片机驱动方法第30-31页
     ·专用IC驱动方法第31页
     ·复杂可编程逻辑器件驱动方法第31页
     ·通用数字电路驱动方法第31页
   ·TCD132D驱动电路设计第31-34页
     ·振荡脉冲产生电路第33页
     ·ΦM产生电路第33-34页
     ·ΦCCD产生电路第34页
     ·ΦSH信号的产生第34页
   ·CCD视频处理电路第34-37页
     ·固定阈值法第35页
     ·浮动阈值法第35-36页
     ·微分法第36-37页
   ·TCD132D视频处理电路设计第37-40页
     ·前置电压跟随电路第38页
     ·放大电路第38页
     ·动态浮动阈值二值化电平的形成第38-40页
第五章 单片机控制系统设计第40-53页
   ·单片机控制系统构成第40-41页
   ·MCS-51单片机内部结构第41-42页
   ·单片机与外部存储器的连接第42-43页
     ·8031与外部程序存储器的连接第43页
     ·8031与外部数据存储器的连接第43页
   ·“看门狗”电路第43-45页
   ·光电隔离、信号转换部分第45-47页
     ·光电隔离第45-46页
     ·信号转换输入第46-47页
   ·串口通讯线路设计第47页
   ·激光器控制电路设计第47-48页
   ·电源转换部分第48-50页
     ·DC-DC模块电源的选择第49-50页
     ·与电源转换部分相关的可靠性设计第50页
   ·外部通信设计及CCD数据传输第50-52页
     ·单片机与微机通讯第50-51页
     ·CCD到单片机的数据传输第51-52页
   ·其它抗干扰措施第52-53页
第六章 单片机控制软件设计第53-64页
   ·C语言与第805153-54页
   ·C51程序结构第54页
   ·单片机控制软件第54-55页
   ·串行口通讯子程序第55-60页
     ·串行口通讯概述第55-56页
     ·可编程串行口资源第56-58页
     ·串行口程序设计第58-60页
   ·控制选择子程序第60-61页
   ·采样子程序第61-64页
第七章 系统误差分析和实验结果第64-70页
   ·误差分析第64-66页
     ·CCD器件的光电响应非均匀性和非线性第64-65页
     ·CCD量化误差第65页
     ·偶然误差第65-66页
   ·实验内容第66页
   ·测量方案第66-67页
     ·线性度实验第66页
     ·稳定性实验第66-67页
   ·实验结果第67-70页
     ·线性度实验第67页
     ·稳定性实验第67-70页
第八章 结   论第70-72页
致     谢第72-73页
参  考  文  献第73-75页
附 录 一第75-77页
附 录 二第77页

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