考虑工艺波动的互连线模型研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-10页 |
| 目录 | 第10-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-23页 |
| ·互连线模型研究的意义 | 第13-14页 |
| ·工艺波动的由来和影响 | 第14-20页 |
| ·互连线工艺波动 | 第14-15页 |
| ·互连线工艺波动的影响 | 第15-17页 |
| ·工艺波动对集成电路设计流程的影响 | 第17-20页 |
| ·本文的主要工作与组织 | 第20-23页 |
| 第二章 互连线建模基础知识 | 第23-43页 |
| ·互连线寄生参数提取技术 | 第23-29页 |
| ·电阻提取技术 | 第23-24页 |
| ·电容提取技术 | 第24-27页 |
| ·电感提取技术 | 第27-29页 |
| ·互连线建模方法分析 | 第29-32页 |
| ·时域分析法 | 第30-31页 |
| ·变换域分析法 | 第31页 |
| ·时频混合分析法 | 第31页 |
| ·系统分析法 | 第31-32页 |
| ·互连线延时模型 | 第32-38页 |
| ·Elmore模型 | 第32-34页 |
| ·RC模型的改进方法 | 第34-35页 |
| ·RLC延时模型 | 第35-37页 |
| ·延时模型依赖性分析 | 第37-38页 |
| ·互连线串扰模型 | 第38-41页 |
| ·集总参数模型分析 | 第39-40页 |
| ·串扰的复频域分析 | 第40-41页 |
| ·串扰和延时的关系 | 第41页 |
| ·本章小结 | 第41-43页 |
| 第三章 工艺波动影响下的互连延时极值分析 | 第43-55页 |
| ·极限分析方法分析 | 第43-44页 |
| ·工艺角(Process Corners) | 第43-44页 |
| ·互连线工艺角分析方法 | 第44页 |
| ·RLC互连极限分析 | 第44-50页 |
| ·算法由来 | 第44-45页 |
| ·工艺波动对互连寄生参数的影响 | 第45-46页 |
| ·工艺波动与互连延时波动的关系 | 第46-48页 |
| ·RLC互连延时的工艺角分析 | 第48-49页 |
| ·工艺波动与RLC互连延时波动的关系 | 第49-50页 |
| ·实验验证及结果分析 | 第50-54页 |
| ·实验验证 | 第50-53页 |
| ·结果分析 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第四章 考虑工艺波动的互连延时统计分析 | 第55-77页 |
| ·考虑工艺波动的快速RC互连延时统计计算 | 第55-64页 |
| ·算法由来 | 第55-56页 |
| ·工艺波动影响下的互连参数建模 | 第56-57页 |
| ·工艺波动影响下的RC互连延时统计计算 | 第57-59页 |
| ·仿真验证 | 第59-64页 |
| ·考虑工艺波动影响的RLC互连统计延时 | 第64-74页 |
| ·算法由来 | 第64-65页 |
| ·工艺波动影响下的互连参数建模 | 第65-66页 |
| ·考虑工艺变化的矩的生成 | 第66-67页 |
| ·基于Weibull分布的RLC统计延时模型 | 第67-70页 |
| ·分析与讨论 | 第70-74页 |
| ·本章小结 | 第74-77页 |
| 第五章 考虑工艺波动的互连线串扰统计模型分析 | 第77-95页 |
| ·互连线串扰噪声对VLSI设计的影响 | 第78-81页 |
| ·串扰噪声对VLSI设计影响的机理分析 | 第78-79页 |
| ·功能噪声对VLSI设计的影响分析 | 第79-81页 |
| ·延时噪声对VLSI设计的影响分析 | 第81页 |
| ·考虑工艺波动的互连线串扰统计模型 | 第81-93页 |
| ·传输线理论 | 第82-85页 |
| ·电容负载双线串扰模型 | 第85-86页 |
| ·双线串扰工艺波动模型 | 第86-88页 |
| ·实验分析讨论 | 第88-93页 |
| ·本章小结 | 第93-95页 |
| 第六章 结束语 | 第95-99页 |
| 致谢 | 第99-101页 |
| 参考文献 | 第101-111页 |
| 作者攻读博士期间的研究成果和参加的科研项目 | 第111-112页 |
| 一、科研论文 | 第111页 |
| 二、参加的科研项目 | 第111-112页 |
