首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--一般性问题论文--制造工艺论文

掺杂对电子封装无铅互连界面微结构和可靠性影响的机理研究

摘要第1-6页
Abstract第6-10页
第一章 绪论第10-22页
   ·电子封装与焊料的使用第10-12页
   ·无铅焊料研制时一般应考虑的问题第12-15页
   ·提高焊点可靠性的方法第15-18页
     ·降低合金的熔点,从而降低润湿反应时与焊盘反应的速率第15-16页
     ·抑制IMC 过快生长,提高焊点的可靠性第16-18页
   ·无铅焊料的技术表征第18-21页
     ·热力学特性表征第19页
     ·力学性能表征第19-21页
   ·无铅焊料研制中亟待解决的问题及其研究意义第21页
 本章小结第21-22页
第二章 实验设计方案第22-30页
   ·引言第22页
   ·基体材料的选择第22-23页
   ·掺杂颗粒的选择第23页
   ·焊料掺杂第23页
   ·焊接基板的加工处理第23页
   ·回流焊接曲线第23-26页
     ·回流设备的技术参数第23-24页
     ·回流曲线设定第24-25页
     ·回流实验操作第25-26页
   ·时效实验第26页
   ·润湿实验第26-27页
   ·金相分析及界面形貌观察第27-29页
     ·金相试样制作第27-28页
     ·界面相貌观察第28-29页
 本章小结第29-30页
第三章 锑和稀土对焊料润湿性、焊点界面形貌以及金相组织的影响第30-41页
   ·影响焊料润湿性的几个因素第30-32页
   ·润湿测试结果与讨论第32-33页
   ·焊点横截面的显微结构以及合金的金相组织变化第33-40页
 本章小结第40-41页
第四章 锑和稀土化合物对焊接界面化合物层生长速率的影响第41-53页
   ·多次回流焊接条件下,界面IMC 的生长规律第41-46页
   ·固态反应时界面IMC 的生长速率的比较第46-51页
 本章小结第51-53页
总结与展望第53-55页
参考文献第55-60页
攻读硕士学位期间取得的研究成果第60-61页
致谢第61-62页
附件第62页

论文共62页,点击 下载论文
上一篇:PoP(Package on Package)器件在电—热环境下的可靠性研究
下一篇:案例研究:美盛公司扩张失败案例分析