| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-20页 |
| 1.1 项目研究背景和意义 | 第16-17页 |
| 1.2 芯片自动测试平台国内外应用现状 | 第17-18页 |
| 1.3 论文主要工作和章节安排 | 第18-20页 |
| 第二章 芯片自动测试平台总体设计 | 第20-24页 |
| 2.1 芯片自动测试原理 | 第20-21页 |
| 2.2 测试平台机械设备介绍 | 第21-22页 |
| 2.3 芯片自动测试平台架构设计 | 第22页 |
| 2.4 芯片自动化测试流程 | 第22-23页 |
| 2.5 小结 | 第23-24页 |
| 第三章 芯片自动测试平台控制系统设计 | 第24-46页 |
| 3.1 控制系统硬件总体方案设计 | 第24-26页 |
| 3.2 控制系统硬件电路模块设计 | 第26-40页 |
| 3.2.1 电源管理分配网络电路设计 | 第26-29页 |
| 3.2.2 MCU最小系统设计 | 第29-32页 |
| 3.2.3 传感器模块接口电路设计 | 第32-34页 |
| 3.2.4 电机驱动电路设计 | 第34-38页 |
| 3.2.5 电磁阀驱动电路设计 | 第38-39页 |
| 3.2.6 通信接口电路设计等 | 第39-40页 |
| 3.3 控制程序设计 | 第40-42页 |
| 3.3.1 控制程序流程设计 | 第40-41页 |
| 3.3.2 电机加减速控制程序设计 | 第41-42页 |
| 3.4 系统错误检测与优化方法 | 第42-43页 |
| 3.5 软硬件联调测试结果分析 | 第43-44页 |
| 3.6 小结 | 第44-46页 |
| 第四章 芯片自动测试平台上位机软件开发 | 第46-56页 |
| 4.1 上位机软件功能需求 | 第46-47页 |
| 4.2 上位机软件流程及设计实现 | 第47-50页 |
| 4.3 上位机软件的模块介绍 | 第50-54页 |
| 4.3.1 通信设置模块 | 第50-51页 |
| 4.3.2 参数设置模块 | 第51-52页 |
| 4.3.3 速度设置模块 | 第52-53页 |
| 4.3.4 手动调试模块 | 第53页 |
| 4.3.5 运行信息控制模块 | 第53-54页 |
| 4.4 小结 | 第54-56页 |
| 第五章 SHC3206测试板设计 | 第56-74页 |
| 5.1 SHC3206芯片介绍 | 第56-57页 |
| 5.2 SHC3206芯片测试方案 | 第57-58页 |
| 5.3 SHC3206自动测试板硬件电路设计 | 第58-65页 |
| 5.3.1 测试板硬件方案设计 | 第58-59页 |
| 5.3.2 测试板电源管理设计方案 | 第59-61页 |
| 5.3.3 测试板高速差分线路设计及信号完整性分析 | 第61-62页 |
| 5.3.4 测试板控制电路设计 | 第62-63页 |
| 5.3.5 I2C总线设计及注意事项 | 第63-65页 |
| 5.4 测试板MCU控制程序开发 | 第65-66页 |
| 5.5 测试板FPGA Verilog程序设计 | 第66-71页 |
| 5.5.1 FPGA信号编码算法 | 第67-70页 |
| 5.5.2 FPGA信号解码算法 | 第70-71页 |
| 5.6 小结 | 第71-74页 |
| 第六章 总结和展望 | 第74-76页 |
| 6.1 总结 | 第74页 |
| 6.2 展望 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78-80页 |
| 作者简介 | 第80-81页 |