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高可靠性电路结构设计与应用

摘要第1-4页
Abstract第4-7页
第一章 绪论第7-13页
   ·课题研究背景第7-8页
   ·FPGA 可靠性设计要求第8-9页
   ·ASIP 及其并行结构简介第9-11页
   ·本文研究工作及章节安排第11-13页
第二章 FPGA 高可靠性设计技术第13-27页
   ·FPGA 可靠性设计方法第13-14页
   ·с模冗余第14-18页
     ·с模冗余概述第14页
     ·с模冗余表决器设计第14-16页
     ·с模冗余在 FPGA 中的具体实现第16-18页
   ·纠错编码第18-20页
     ·纠错码概述第18-19页
     ·汉明码(Hamming codes)第19-20页
   ·内建自测试第20-26页
     ·内建自测试概述第20-21页
     ·扫描链建立第21-22页
     ·电路测试第22-26页
   ·本章小结第26-27页
第三章 基于FPGA的高可靠性通用图像处理系统设计第27-39页
   ·基于 FPGA 的通用图像处理系统总体结构第27-28页
   ·硬件电路设计第28-32页
     ·FPGA 配置第28-29页
     ·USB2.0 接口设计第29-30页
     ·扩展存储模块第30-31页
     ·Cameral Link 接口设计第31-32页
     ·系统电源、复位及时钟等的设计第32页
   ·可靠性设计方案第32-38页
     ·器件选型第32-33页
     ·硬件电路模块冗余第33-35页
     ·布局布线第35-36页
     ·电源和地的设计第36-37页
     ·信号完整性第37-38页
   ·本章总结第38-39页
第四章 基于 RISC 的 ASIP 处理器及其可靠性设计第39-53页
   ·ASIP 电路结构及指令集第39-42页
   ·高可靠性 ASIP 设计方案第42-52页
     ·算术逻辑运算单元第42-44页
     ·程序控制单元第44-46页
     ·数据地址产生单元第46-47页
     ·存储单元第47-50页
     ·系统总体的可靠性结构第50-52页
   ·本章总结第52-53页
第五章 ASIP 并行处理系统可靠性设计方案第53-67页
   ·ASIP 并行处理体系结构第53-55页
   ·SIMD 并行处理结构第55-58页
   ·SIMD 阵列结构可靠性设计方法第58-65页
     ·SIMD 阵列可靠性结构第58-63页
     ·可靠性分析第63-65页
   ·本章小结第65-67页
第六章 总结у展望第67-69页
   ·总结第67页
   ·展望第67-69页
致谢第69-71页
参考文献第71-75页
研究成果第75-76页

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