超大规模集成电路容软错技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 致谢 | 第7-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-18页 |
| ·研究背景及现状 | 第12-15页 |
| ·研究背景 | 第12-13页 |
| ·研究现状 | 第13-15页 |
| ·研究内容及创新之处 | 第15-16页 |
| ·研究内容 | 第15-16页 |
| ·创新之处 | 第16页 |
| ·组织结构 | 第16-18页 |
| 第二章 软错误及其容错技术 | 第18-30页 |
| ·软错误相关概念 | 第18-20页 |
| ·组合逻辑容错技术 | 第20-24页 |
| ·SET 对组合逻辑的影响 | 第20页 |
| ·组合逻辑SER 评估技术 | 第20-22页 |
| ·组合逻辑容错技术 | 第22-23页 |
| ·组合逻辑选择性加固方案 | 第23-24页 |
| ·FSM 及其拆分技术 | 第24-30页 |
| ·FSM 定义 | 第24-25页 |
| ·FSM 综合 | 第25页 |
| ·FSM 拆分技术 | 第25-30页 |
| 第三章 对面积开销有效的组合逻辑选择性加固方案 | 第30-40页 |
| ·选择性加固动机 | 第30-31页 |
| ·具体实现 | 第31-37页 |
| ·SER 计算 | 第31-35页 |
| ·单元加固方案 | 第35-36页 |
| ·选择策略 | 第36-37页 |
| ·实验结果以及与其他方案的比较 | 第37-39页 |
| ·实验结果 | 第37-38页 |
| ·与其他方案的比较 | 第38-39页 |
| ·方案总结 | 第39-40页 |
| 第四章 支持BIST 的串行自恢复控制器方案 | 第40-54页 |
| ·拆分动机 | 第40-41页 |
| ·具体实现 | 第41-51页 |
| ·支持BIST 的串行自恢复控制器结构 | 第41-44页 |
| ·拆分算法 | 第44-51页 |
| ·实验结果 | 第51-53页 |
| ·方案总结 | 第53-54页 |
| 第五章 结束语 | 第54-55页 |
| ·研究总结 | 第54页 |
| ·进一步研究 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-61页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学士论文 | 第61-62页 |
