摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-8页 |
致谢 | 第8-13页 |
第一章 绪论 | 第13-20页 |
·SoC 的测试 | 第13-17页 |
·SoC 相关背景知识 | 第13-14页 |
·SoC 测试相关知识 | 第14-16页 |
·SoC 测试面临的挑战 | 第16-17页 |
·研究目的和意义 | 第17页 |
·国内外研究现状 | 第17-18页 |
·本文创新点和结构安排 | 第18-20页 |
第二章 SoC 测试数据压缩方法 | 第20-31页 |
·内建自测试BIST(Built-In-Self-Test) | 第20-21页 |
·外建自测试BOST(Built-Off -Self-Test) | 第21页 |
·测试数据压缩方法 | 第21-30页 |
·基于编码的压缩方法 | 第22-26页 |
·基于游程编码 | 第22-24页 |
·基于统计编码 | 第24-26页 |
·基于扫描链的压缩方法 | 第26-30页 |
·本章小结 | 第30-31页 |
第三章 基于部分数据块复用的SoC 测试数据压缩方法 | 第31-41页 |
·基于部分数据块复用的编码方案 | 第32-36页 |
·编码思想 | 第32-34页 |
·算法描述 | 第34-35页 |
·编码实例 | 第35-36页 |
·解压结构与原理 | 第36-38页 |
·实验结果 | 第38-40页 |
·本章小结 | 第40-41页 |
第四章 基于局部复用的选择Huffman 编码方法 | 第41-50页 |
·三种Huffman 编码 | 第41-43页 |
·基于局部复用的选择Huffman 编码方案 | 第43-46页 |
·编码思想 | 第43-44页 |
·无关位赋值规则 | 第44-45页 |
·编码实例 | 第45-46页 |
·解压结构 | 第46-47页 |
·实验结果 | 第47-49页 |
·本章小结 | 第49-50页 |
第五章 总结与展望 | 第50-53页 |
·课题研究总结 | 第50-51页 |
·工作展望 | 第51-53页 |
参考文献 | 第53-57页 |
硕士期间发表论文和参与的科研工作 | 第57-58页 |
在攻读硕士期间发表的论文 | 第57页 |
在攻读硕士期间参与的科研工作 | 第57-58页 |