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基于部分复用和统计的SoC测试数据压缩方法研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-8页
致谢第8-13页
第一章 绪论第13-20页
   ·SoC 的测试第13-17页
     ·SoC 相关背景知识第13-14页
     ·SoC 测试相关知识第14-16页
     ·SoC 测试面临的挑战第16-17页
   ·研究目的和意义第17页
   ·国内外研究现状第17-18页
   ·本文创新点和结构安排第18-20页
第二章 SoC 测试数据压缩方法第20-31页
   ·内建自测试BIST(Built-In-Self-Test)第20-21页
   ·外建自测试BOST(Built-Off -Self-Test)第21页
   ·测试数据压缩方法第21-30页
     ·基于编码的压缩方法第22-26页
       ·基于游程编码第22-24页
       ·基于统计编码第24-26页
     ·基于扫描链的压缩方法第26-30页
   ·本章小结第30-31页
第三章 基于部分数据块复用的SoC 测试数据压缩方法第31-41页
   ·基于部分数据块复用的编码方案第32-36页
     ·编码思想第32-34页
     ·算法描述第34-35页
     ·编码实例第35-36页
   ·解压结构与原理第36-38页
   ·实验结果第38-40页
   ·本章小结第40-41页
第四章 基于局部复用的选择Huffman 编码方法第41-50页
   ·三种Huffman 编码第41-43页
   ·基于局部复用的选择Huffman 编码方案第43-46页
     ·编码思想第43-44页
     ·无关位赋值规则第44-45页
     ·编码实例第45-46页
   ·解压结构第46-47页
   ·实验结果第47-49页
   ·本章小结第49-50页
第五章 总结与展望第50-53页
   ·课题研究总结第50-51页
   ·工作展望第51-53页
参考文献第53-57页
硕士期间发表论文和参与的科研工作第57-58页
 在攻读硕士期间发表的论文第57页
 在攻读硕士期间参与的科研工作第57-58页

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