| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-31页 |
| ·课题背景、目的和意义 | 第12-15页 |
| ·SOC 测试结构及测试时间分析 | 第15-21页 |
| ·SOC 测试结构 | 第15-19页 |
| ·SOC 测试时间分析 | 第19-21页 |
| ·测试时间最小化的测试优化技术研究现状 | 第21-28页 |
| ·测试压缩技术 | 第21-23页 |
| ·扫描链平衡设计 | 第23-24页 |
| ·测试调度方法 | 第24-26页 |
| ·层次化SOCs 测试优化技术 | 第26-28页 |
| ·测试时间优化领域存在的问题 | 第28-29页 |
| ·课题来源及主要研究内容 | 第29-31页 |
| 第2章 基于扫描链平衡设计的IP 核测试时间最小化方法 | 第31-61页 |
| ·引言 | 第31页 |
| ·可测性技术 | 第31-37页 |
| ·可测性设计及主要方法 | 第31-34页 |
| ·基于扫描设计的SOC 可测性技术 | 第34-35页 |
| ·ITC’02 标准测试集 | 第35-37页 |
| ·基于IEEE 1500 标准的测试封装设计及扫描链划分方法 | 第37-42页 |
| ·IEEE 1500 标准的测试封装 | 第37-40页 |
| ·扫描链划分对测试时间的影响 | 第40-42页 |
| ·基于单IP 核测试时间最小化的扫描链平衡设计 | 第42-60页 |
| ·现有的扫描链平衡方法概述 | 第42-47页 |
| ·基于差值二次分配的扫描链平衡方法 | 第47-56页 |
| ·仿真实验 | 第56-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第3章 基于交叉熵方法的SOC 测试调度算法 | 第61-86页 |
| ·引言 | 第61页 |
| ·交叉熵方法及其应用 | 第61-68页 |
| ·交叉熵方法的原理 | 第61-63页 |
| ·交叉熵方法解决组合优化问题的收敛性 | 第63-64页 |
| ·交叉熵方法改进及性能测试 | 第64-68页 |
| ·基于交叉熵方法的固定TAM 宽度的测试调度算法 | 第68-76页 |
| ·问题建模及分类 | 第69-70页 |
| ·测试总线指定 | 第70-73页 |
| ·测试总线划分 | 第73-76页 |
| ·基于交叉熵方法的可变TAM 宽度的测试调度算法 | 第76-84页 |
| ·问题建模 | 第76-77页 |
| ·基于B*_tree 的结构描述模型 | 第77-80页 |
| ·灵活TAM 分配的测试调度算法 | 第80-83页 |
| ·实验验证与分析 | 第83-84页 |
| ·本章小结 | 第84-86页 |
| 第4章 层次化SOCs 测试优化方法 | 第86-109页 |
| ·引言 | 第86页 |
| ·层次化SOCs 测试结构优化 | 第86-100页 |
| ·基于带宽匹配的层次化SOCs 测试结构设计 | 第86-90页 |
| ·一种基于传输门的并行测试封装扫描单元设计 | 第90-100页 |
| ·层次化SOCs 测试调度 | 第100-108页 |
| ·层次化SOCs 测试调度算法 | 第100-104页 |
| ·基于IP 核分时测试的层次化SOCs 测试调度方法 | 第104-108页 |
| ·本章小结 | 第108-109页 |
| 结论 | 第109-111页 |
| 参考文献 | 第111-123页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文及其它成果 | 第123-126页 |
| 致谢 | 第126-127页 |
| 个人简历 | 第127页 |
